田竞;英崇夫
【期刊名称】《宇航材料工艺》 【年(卷),期】1998(028)005
【摘 要】利用阴极溅射方法在铝合金表面沉积氮化铝薄膜,利用X射线研究了沉积过程中气体压力的变化对氮化铝薄膜结晶的择优取向及薄膜内应力的影响。结果表明:在较低压力沉积的氮化铝薄膜有良好的择优取向性;氮化铝薄膜残余应力为压应力,且随气体压力增加而逐渐变化。 【总页数】3页(P41-43) 【作 者】田竞;英崇夫
【作者单位】哈尔滨工业大学;德岛大学工学部 【正文语种】中 文 【中图分类】TG174.442 【相关文献】
1.氧化铝基体表面预处理对金刚石薄膜生长的影响 [J], 孟祥钦;王兵;王玉乾;甘孔银;李凯;王延平;何婷
2.沉积参数对Mo-Re合金基体上沉积金刚石薄膜的影响 [J], 王健;余志明;吴晓斌;刘倩
3.基体温度对碳氮薄膜成分和结构的影响 [J], 张永平;顾有松;田中卓;常香荣;时东霞;张秀芳
4.氧化铝薄膜磁控溅射工艺参数对PET基体温度的影响 [J], 林晶;刘壮;孙智慧;高
德
5.氧化铝膜对铝诱导制备多晶硅薄膜的影响 [J], 唐正霞;沈鸿烈;鲁林峰;黄海宾;蔡红;沈剑沧
因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买
因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容