专利名称：纳米粒子的检测方法专利类型：发明专利
发明人：王永杰,陈智勇,姚栋嘉,吴恒,牛利伟,孙国栋申请号：CN201510506632.X申请日：20150818公开号：CN105021502A公开日：20151104
摘要：本发明公开了一种纳米粒子的检测方法，将纯度为99.99%的超薄铝片在有机溶剂中超声除油后，依次放入NaOH溶液和高氯酸乙醇溶液中进行电化学抛光，除去表面氧化层，然后放入酸性电解液中，用石墨作为阴极氧化3～8小时，得到的氧化铝纳米孔超薄板安装到电路中；当纳米粒子漂浮到氧化铝纳米孔超薄板时，电流会发生变化，通过测量电流变化量与单个微孔导通电流发生的变化量比较，即可得出该尺寸的纳米粒子的浓度。本发明采用阳极氧化的方法来制备纳米孔，通过工艺参数调整来实现纳米空隙阵列，可检测环境中10～300nm尺寸内纳米颗粒的存在及其浓度，纳米空隙灵敏度高，可多次使用，不会产生环境污染及危害等技术问题，具有很好的实用价值和市场应用前景。
申请人：河南泛锐复合材料研究院有限公司
地址：450001 河南省郑州市高新技术开发区西四环228号企业公园12号楼803室
国籍：CN
代理机构：郑州金成知识产权事务所(普通合伙)
代理人：郭乃凤
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