中石油股份公司管道项目经理部企业标准
Q/SY GJX 0112-2007
西气东输二线管道工程无损检测规范
Nondestructive testing for second
west-east natural gas transmission pipeline project
（报批稿）
2007-12-XX发布 2007-12-XX实施
中石油股份公司管道项目经理部 发 布
目 次
前言 ……………………………………………………………………………………………………Ⅴ 1 范围 …………………………………………………………………………………………………1 2 规范性引用文件 ……………………………………………………………………………………1 3 术语和定义 …………………………………………………………………………………………2 4 一般要求 ……………………………………………………………………………………………4 5 射线检测 ……………………………………………………………………………………………5 5.1 检测人员 …………………………………………………………………………………………5 5.2 辐射防护 …………………………………………………………………………………………5 5.3 射线照相胶片 ……………………………………………………………………………………5 5.4 增感屏 ……………………………………………………………………………………………6 5.5 像质计 ……………………………………………………………………………………………6 5.6 观片灯 ……………………………………………………………………………………………7 5.7 黑度计和标准黑度片 ……………………………………………………………………………7 5.8 标记 ………………………………………………………………………………………………8 5.9 表面状态 …………………………………………………………………………………………8 5.10 透照方式…………………………………………………………………………………………8 5.11 透照方向…………………………………………………………………………………………9 5.12 几何条件…………………………………………………………………………………………9 5.13 分段透照次数 …………………………………………………………………………………10 5.14 射线源和能量的控制 …………………………………………………………………………10 5.15 曝光量和曝光曲线 ……………………………………………………………………………10 5.16 无用射线和散射线的屏蔽 ……………………………………………………………………11 5.17 胶片处理 ………………………………………………………………………………………11 5.18 评片要求 ………………………………………………………………………………………11 5.19 底片质量 ………………………………………………………………………………………12 5.20 质量分级 ………………………………………………………………………………………12 5.21 射线检测报告 …………………………………………………………………………………20 6 超声检测……………………………………………………………………………………………21
6.1 超声检测人员……………………………………………………………………………………21 6.2 探伤仪……………………………………………………………………………………………21 6.3 探头………………………………………………………………………………………………21 6.4 超声探伤仪和探头的系统性能…………………………………………………………………21 6.5 试块………………………………………………………………………………………………21 6.6 检测面……………………………………………………………………………………………22 6.7 耦合剂……………………………………………………………………………………………23 6.8 探头的选择………………………………………………………………………………………23 6.9 距离-波幅曲线的制作…………………………………………………………………………24 6.10 校准 ……………………………………………………………………………………………25 6.11 仪器和探头系统的复核 ………………………………………………………………………25 6.12 检测一般要求 …………………………………………………………………………………26 6.13 缺欠定量 ………………………………………………………………………………………26 6.14 缺欠评定 ………………………………………………………………………………………27 6.15 质量分级 ………………………………………………………………………………………27 6.16 超声检测报告 …………………………………………………………………………………28 7 全自动超声波检测…………………………………………………………………………………28 7.1 检测人员…………………………………………………………………………………………28 7.2 超声设备…………………………………………………………………………………………28 7.3 探头………………………………………………………………………………………………29 7.4 对比试块…………………………………………………………………………………………29 7.5 耦合剂……………………………………………………………………………………………30 7.6 检测系统设置……………………………………………………………………………………30 7.7 检测系统动态调试………………………………………………………………………………32 7.8 表面条件…………………………………………………………………………………………32 7.9 检测标识和参考线………………………………………………………………………………32 7.10 扫查灵敏度 ……………………………………………………………………………………32 7.11 系统性能校验 …………………………………………………………………………………33 7.12 缺欠显示评定 …………………………………………………………………………………33
II
7.13 缺欠显示分类 …………………………………………………………………………………33 7.14 验收标准 ………………………………………………………………………………………33 7.15 报告和存档 ……………………………………………………………………………………34 8 磁粉检测……………………………………………………………………………………………35 8.1 检测人员…………………………………………………………………………………………35 8.2 检测方法…………………………………………………………………………………………35 8.3 设备………………………………………………………………………………………………35 8.4 标准试片…………………………………………………………………………………………35 8.5 辅助器材…………………………………………………………………………………………37 8.6 磁粉、载体及磁悬液……………………………………………………………………………37 8.7 校验………………………………………………………………………………………………38 8.8 安全防护…………………………………………………………………………………………38 8.9 综合性能试验……………………………………………………………………………………38 8.10 被检表面制备 …………………………………………………………………………………38 8.11 检测范围 ………………………………………………………………………………………38 8.12 磁粉检测基本步骤 ……………………………………………………………………………38 8.13 操作要求 ………………………………………………………………………………………39 8.14 复验 ……………………………………………………………………………………………39 8.15 验收标准 ………………………………………………………………………………………40 8.16 磁粉检测报告 …………………………………………………………………………………41 9 渗透检测 …………………………………………………………………………………………41 9.1 检测人员 …………………………………………………………………………………………41 9.2 检测方法…………………………………………………………………………………………41 9.3 检测材料…………………………………………………………………………………………41 9.4 试块………………………………………………………………………………………………42 9.5 安全防护…………………………………………………………………………………………42 9.6 表面要求…………………………………………………………………………………………43 9.7 渗透检测基本步骤………………………………………………………………………………43 9.8 操作要求…………………………………………………………………………………………43
III
9.9 复检 ………………………………………………………………………………………………44 9.10 验收标准…………………………………………………………………………………………44 9.11 渗透检测报告……………………………………………………………………………………45 附录A （资料性附录） 胶片系统特性指标…………………………………………………………46 附录B （资料性附录） 黑度计（光学密度计）定期校验方法……………………………………47 附录C （资料性附录） 检测报告格式………………………………………………………………48 附录D (规范性附录) 附录E (规范性附录) 附录F （资料性附录）附录G (资料性附录) 附录H (规范性附录) 附录I （规范性附录） 表面声能损失差的测定……………………………………………………58 对比试块的使用及根部缺欠（未焊透）检测灵敏度……………………59 裂纹类缺欠的动态波型……………………………………………………60 试块上典型人工反射体设置………………………………………………62 钢管中声速的测定…………………………………………………………65 非标准温度下检测规范的确认……………………………………………69
IV
前 言
本标准的附录D、附录E、附录H和附录I为规范性附录，附录A、附录B、附录C、附录F和附录G为资料性附录。
本标准由中国石油天然气股份公司管道建设项目经理部提出并归口。 本标准主编单位：中国石油天然气管道局第二工程分公司。
本标准主要起草人：曹健、徐进、庆红若、熊二剑、高泽涛、续理、袁少山、宁孝文、王涛
V
西气东输二线管道工程无损检测规范
1 范围
本标准适用于西气东输二线管道工程钢质管道焊接接头的无损检测。
本标准规定了射线检测、手动超声检测（以下简称超声检测）、全自动超声检测、磁粉检测和渗透检测五种无损检测方法及质量分级。
射线检测适用于壁厚为2mm～50mm的低碳钢、低合金钢金属材料管道环向对接接头的检测与质量分级。
超声检测适用于壁厚为5mm～50mm，管径为57mm～1400mm的低碳钢、低合金钢金属材料的管道环向对接接头检测与质量分级，不适用于弯头与直管、带颈法兰与直管、回弯头与直管对接接头的检测。
全自动超声波检测适用于利用多通道、声聚焦、分区扫查的全自动超声波检测系统对壁厚为6mm～50mm、管径大于100mm的低碳钢、低合金钢管道环向自动焊对接接头的检测与质量验收。
磁粉检测适用于钢质管道焊接接头表面、近表面缺欠的检测与质量验收。 渗透检测适用于钢质管道焊接接头表面开口缺欠的检测与质量验收。 超出本标准适用范围的其他钢种的检测应符合设计规定。 2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T 5097-2005 无损检测 渗透检测和磁粉检测观察条件 GB 11533 标准对数视力表
GB/T 12604.1 无损检测术语 超声检测 GB/T 12604.2 无损检测术语 射线照相检测 GB/T 12604.3 无损检测术语 渗透检测 GB/T 12604.5 无损检测术语 磁粉检测 GB 16357 工业Χ射线探伤放射卫生防护标准 GB 18465 工业γ射线探伤放射卫生防护要求
1
GB 18871 电离辐射防护与辐射源安全基本标准
GB/T 19348.1-2003 无损检测 工业射线照相胶片 第1部分：工业射线照相胶片系统的分类 JB/T 4730.2-2005 承压设备无损检测 第2部分：射线检测 JB/T 6063 无损检测 磁粉检测用材料 JB/T 6064-2006 无损检测 渗透检测用试块 JB/T 6065 无损检测 磁粉检测用试片
JB/T 7902 无损检测 射线照相检测用线型像质计 JB/T 7903 工业射线照相底片观片灯 JB/T 8290 磁粉探伤机
JB/T 8428 无损检测 超声检测用试块
JB/T 9214 A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能 测试方法 JB/T 10061 A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件 JB/T 10062 超声探伤用探头性能测试方法
特种设备无损检测人员考核与监督管理规则（国家质量监督检验检疫总局国质锅检字【2003】248 号文件） 3 术语和定义
GB/T 12604.1、GB/T 12604.2、GB/T 12604.3、GB/T 12604.5规定的以及下列术语和定义适用于本标准。 3.1
缺欠 imperfection
按本标准规定的无损检测方法检出的不连续性。 3.2
缺陷 defect
采用本标准验收超出合格级别的缺欠。 3.3
表面未熔合 incomplete fusion（IF）
表面未熔合是指熔焊金属与母材之间未能完全熔化结合且延续到表面，如图1所示。
2
图1 表面未熔合
3.4
夹层未熔合 incomplete fusion due to cold lap（IFD）
夹层未熔合是指熔焊金属之间（层间未熔合）或熔焊金属与母材之间（坡口未熔合）未能完全熔化结合，但不延续到表面，如图2所示。
图2 夹层未熔合
3.5
小径管 small diameter tube 外直径小于或等于89mm的管子。 3.6
衍射波时差法（TOFD） time of flight diffraction
依靠从被检工件内部结构（主要指缺欠）的“端角”和“端点”衍射的低幅度纵波探测和测定反射体尺寸的一种技术。 3.7
直通波 lateral wave
TOFD技术中特有的一种波型，在材料表面下以最短路径传播的纵波信号。 3.8
底面反射波 back reflection
TOFD技术中从材料底面反射的纵波信号。 3.9
相关显示 relevant indication
磁粉检测时由缺欠（裂纹、未熔合、气孔、夹渣等）产生的漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，或渗透检测时由缺欠产生的渗透剂显示，通常称之为相关显示。
3
3.10
非相关显示 non-relevant indication
由磁路截面突变以及材料磁导率差异等原因产生的漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，或是由于加工工艺、零件结构、外形或机械损伤等所引起的渗透剂显示，通称为非相关显示。
3.11
伪显示 false indication
磁粉检测时不是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，也叫假显示。
4 一般要求 4.1 使用原则
4.1.1 应根据被检产品的材质、制造方法、工作介质、使用条件和失效模式，预计可能产生的缺欠种类、形状、部位和取向，综合考虑射线、手动超声、全自动超声波、磁粉和渗透等检测方法各自的特点和局限性，选择适宜的无损检测方法。
4.1.2 射线检测、超声检测、全自动超声检测主要用于检测钢质管道对接接头内部的缺欠；磁粉检测主要用于钢质管道焊接接头表面及近表面的缺欠；渗透检测主要用于检测钢质管道焊接接头表面开口的缺欠。
4.1.3 钢质管道对接接头内部的面状缺欠，宜采用超声检测和全自动超声检测；管道对接接头内部的体积状缺欠及薄壁管对接接头，宜采用射线检测。 4.1.4 铁磁性材料表面缺欠检测时，宜优先采用磁粉检测。
4.1.5 当采用两种或两种以上的检测方法对同一部位进行检测时，应符合各自的合格级别。如采用同种检测方法、不同检测工艺进行检测，当检测结果不一致时，应以危险度大的评定级别为准。 4.2 检测单位职责
4.2.1 进行检测前应按4.3编制无损检测工艺规程。
4.2.2 检测程序及检测结果应正确、完整并应有相应责任人员签名认可。检测记录、报告及底片等应按规定要求存档，保存期不应少于七年。七年后，若用户需要可转交用户保管。 4.2.3 检测档案中，对于检测人员承担检测项目的相应资格等级和有效期应有记录。 4.2.4 检测用的仪器、设备应定期校验合格并有记录。 4.3 无损检测工艺规程
4
4.3.1 无损检测工艺规程由通用工艺规程和工艺卡两部分组成。
4.3.2 无损检测通用工艺规程应由无损检测Ⅲ级（高级）人员根据相关法规、产品标准、有关的技术文件和本标准的要求编制，并应经无损检测责任工程师审核和所在单位总工程师批准。无损检测通用工艺规程修订、更改时也应履行上述程序。
4.3.3 无损检测工艺卡应由无损检测Ⅱ级（中级）及以上人员根据无损检测通用工艺规程、产品标准、有关技术文件和本标准的要求编制，并应经无损检测责任工程师审核。无损检测工艺卡修订、更改时也应履行上述程序。 4.4 检测人员
4.4.1 从事无损检测的人员，应按照《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》的要求取得相应无损检测资格。
4.4.2 无损检测人员资格级别分为Ⅲ（高）级、Ⅱ（中）级和Ⅰ（初）级。取得不同无损检测方法各资格级别的人员，只应从事与该方法和该资格级别相应的无损检测工作，并应负相应的责任。 5 射线检测 5.1 检测人员
从事射线检测的工作人员除应符合4.4的规定外，还应符合以下规定： a) 射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训；
b) 评片人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力不应低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB 11533的规定。从事底片评定的检测人员应每年检查一次视力。 5.2 辐射防护
5.2.1 放射卫生防护应符合GB 18871、GB 16357和GB 18465的有关规定。
5.2.2 现场进行Χ射线检测时，应按GB 16357的规定划定控制区和管理区，并应设置警告标志。 5.2.3 现场进行γ射线检测时，应按GB 18465的规定划定控制区和监督区，并应设置警告标志。 5.2.4 现场检测时，检测工作人员应佩戴个人剂量计，并应携带射线报警仪，进行γ射线检测时应配备辐射监测仪。 5.3 射线照相胶片
5.3.1 射线胶片系统应按GB19348.1-2003的要求分为四类，即T1、T2、T3和T4四类。T1为最高类别，T4为最低类别。胶片系统的特性指标参见附录A。
5
5.3.2 在满足灵敏度要求的情况下，X射线检测应选用T3类或更高类别的胶片，γ射线应选用T2类或更高类别的胶片。胶片的本底灰雾度不应大于0.3。 5.4 增感屏
应使用铅质增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表1的规定。
表1增感屏的选用 单位为毫米
射线种类 ≤400kV X射线、Se75 Ir192 增感屏材料 铅 铅 前屏厚度 0.03～0.10 0.10～0.20 后屏厚度 0.03～0.10 0.10～0.20 5.5 像质计
5.5.1 底片影像质量采用铁质线型金属丝像质计测定时，其型号和规格应符合JB/T 7902-2006的规定。小径管可选用通用线型像质计，也可选用JB/T 4730.2-2005中附录F规定的专用等径铁质金属丝像质计。
5.5.2 应按透照厚度选择像质灵敏度指数。透照厚度TA的计算应符合表2的规定。像质计灵敏度指数的选择应符合表3的规定。
表2 焊缝的母材厚度和透照厚度 单位为毫米
透照厚度TA 母材厚度 T T T 焊缝余高 单层透照 无 单面 双面 T T+2 T+4 双层透照（含双壁单影） T×2 T×2+2 T×2+4 注：焊缝两侧母材厚度不同时，以薄板计。
表3 像质计灵敏度指数
透照厚度TA
要求达到的像质指数Z 线直径透照厚度TA 6
要求达到的像质指数Z 线直径
mm ≤6 ＞6～8 ＞8～12 ＞12～16 ＞16～20 15 14 13 12 11 mm 0.125 0.160 0.200 0.250 0.320 mm ＞20～25 ＞25～32 ＞32～50 ＞50～80 ＞80～120 10 9 8 7 6 mm 0.400 0.500 0.630 0.800 1.000 5.5.3 像质计型号的选用宜符合表4的规定。
表4 像质计型号的选用
像质计型号 透照厚度 ≤20 mm ＞20～80 ＞80 10/16 6/12 1/7 5.5.4 像质计的放置
5.5.4.1 分段透照时，像质计宜放置在被检焊接接头部位源侧表面的一端、被检区长度的1/4位置，金属丝应垂直横跨焊缝，细丝置于外侧。
5.5.4.2 环向对接接头作中心周向曝光时，像质计应每间隔90º放置一个。
5.5.4.3 对小径管环缝进行双壁双影透照时，像质计应放置于射线源侧被检焊缝有效透照区中心部位。 5.5.4.4 像质计无法在射线源侧放置时，可放在胶片侧，但像质计灵敏度指数应提高一个级别。 5.5.5 像质计的识别
在焊缝影像上，如能清楚地看到长度不小于10㎜（焊缝宽度小于10㎜的除外）的像质计金属丝影像，即认为是可识别的。专用像质计应能识别不少于两根金属丝。 5.6 观片灯
观片灯的主要性能指标应符合JB/T 7903的有关规定。观片灯的亮度应能满足观察黑度为4.0的底片的要求，且亮度可调节。对不需要观察或透光量过强的部分应采用遮光板以屏蔽强光。 5.7 黑度计和标准黑度片
5.7.1 黑度计可测的最大黑度不应小于4.5，测量值的误差不应超过±0.05。 5.7.2 黑度计至少每六个月校验一次。校验方法参见附录B的规定。 5.7.3 标准黑度片至少每两年送具有相应资格的计量单位检定一次。
7
5.8 标记
5.8.1 透照部位的标记包括定位标记和识别标记。标记宜由适当尺寸的铅（或其他适宜的重金属）制数字、拼音字母和符号等构成。
5.8.2 焊缝透照定位标记包括搭接标记（↑或数字）和中心标记（
）。当搭接标记用英文字母或
数字表示时，可不用中心标记。小径管透照时，可只用中心标记。工件表面的定位标记，宜沿介质流动方向从平焊位置顺时针用油质记号笔画定。
5.8.3 识别标记至少应包括工程编号、桩号（线位号）、焊缝编号、施工单位代号、壁厚、透照日期等。对小径管透照时，底片上至少应有工程编号、焊缝编号、部位编号和透照日期。返修部位还应有返修标记R1、R2……（脚码表示返修次数）。
5.8.4 定位标记和识别标记均应在底片适当位置显示，离焊缝边缘应至少5mm。搭接标记应放于胶片侧。 5.9 表面状态
焊缝及热影响区的表面质量（包括余高高度）应经外观检查合格。表面的不规则状态在底片上的影像不应掩盖焊缝中的缺欠或与之相混淆，否则应做适当的修整。 5.10 透照方式
按射线源、工件和胶片之间的相互位置，管道环缝主要采用中心透照、双壁单影透照和双壁双影透照三种方式，见图3。应优先采用中心透照方式，当中心透照方式不可行时，方可采用双壁透照方式。
a) 中心透照法
8
b) 双壁单影透照法
c) 双壁双影透照法
L1——射线源至透照部位工件表面的距离； L2——透照部位工件表面至胶片的距离。
图3 透照方式示意图
5.11 透照方向
透照时射线束中心应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺欠的方向透照。 5.12 几何条件
5.12.1 射线源至被检部位工件表面的距离应满足下式：
L1≥10dL22/3 ………………………………………（1）
式中：
L1—源至被检部位工件表面的距离（或称透照距离），单位为毫米（mm）； d—焦点尺寸（方焦点取边长，长焦点取长短边之和的1/2），单位为毫米（mm）； L2—被检部位工件表面至胶片的距离，单位为毫米（mm）。
5.12.2 采用源在内中心周向曝光时，如底片质量满足黑度和灵敏度要求，L1值可减小，但减小最多不应超过规定值的50%。
9
5.13 分段透照次数
5.13.1 每次透照所检测的焊缝长度称为一次透照长度L3。通常一次透照长度L3除满足几何不清晰度的要求外，还应满足透照厚度比K小于或等于1.1的要求；
5.13.2 小径管对接焊缝应采用双壁双影透照方式椭圆成像。焦距不应少于600㎜，射线束的方向应满足上下焊缝的影像在底片上呈椭圆形显示，焊缝投影内侧间距宜为3㎜~10㎜，最大间距不应超过15㎜。采用倾斜透照椭圆成像时，应至少相隔90º透照二次。当上下焊缝椭圆成像有困难时，可做垂直透照，应至少相隔120º或60º透照三次；
5.13.3 对于公称直径小于250㎜的管道环缝双壁单影透照时，K值和一次透照长度可适当放宽，但整圈焊缝的透照次数应符合下列要求：
a) 当射线源在钢管外表面的距离小于或等于15㎜时，可分为不少于三段透照，互成120º； b) 当射线源在钢管外表面的距离大于15㎜时，可分为不少于四段透照，互成90º。 5.14 射线源和能量的控制
5.14.1 X射线照相应尽量选用较低的管电压。透照不同厚度焊缝时，允许使用的最高管电压应控制在图4的范围内。透照截面厚度变化大的工件时，可采用超过图4规定的X射线管电压，但管电压增加量最高不应超过50kV。
5.14.2 γ射线源的透照厚度范围见表5。 5.15 曝光量和曝光曲线 5.15.1 曝光量应符合下列规定：
a） X射线照相，当焦距为700㎜时，曝光量的推荐值不应小于15mA·min（小径管对接焊缝
除外）。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量进行换算；
b） 采用γ射线源透照时，曝光时间不应小于输送源往返所需时间的10倍。
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图4 透照厚度和允许使用的最高管电压
表5 γ射线源的透照厚度范围
γ射线源 名 称 Se75 Ir192 平均能量 MeV 0.206 0.35 ≥10～40 ≥20～100 透照厚度TA mm 中心透照时，在保证像质计灵敏度满足5.5.2条要求的前提下，允许最小透照厚度取表中下限值的1/2。 5.15.2 制作曝光曲线时应符合下列规定：
a） 应根据设备、胶片和增感屏等具体条件制作或选用合适的曝光曲线，并以此选择曝光规范； b） 制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵敏度、
黑度等参数均应符合本章的规定；
c） 对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或大修理后应及时对
曝光曲线进行校验或重新制作。
5.16 无用射线和散射线的屏蔽
5.16.1 应采用金属增感屏、铅板等适当措施，屏蔽散射线和无用射线限制照射场范围。 5.16.2 对初次制定的检测工艺，或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时，应进行背散射防护检查。为检查背散射，可在暗盒背面贴附“B”铅字标记，“B”铅字的高度宜为13㎜，厚度宜为1.6㎜。若在底片较黑背景上出现“B”的较淡影像，说明背散射防护不够，应采取有效措施。若底片上不出现“B”字影像或出现黑度大于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。 5.17 胶片处理
5.17.1 胶片处理应按胶片使用说明书的规定进行。
5.17.2 宜采用自动冲洗方式处理，也可采用手工冲洗方式处理。 5.18 评片要求
5.18.1 底片评定一般应在专用的评片室进行。评片室应整洁、安静，温度适宜，光线应暗且柔和。 5.18.2 评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光下进入评片的暗适应时间一般为5min～10min；从一般的室内进入评片的暗适应时间不应少于30s。
5.18.3 底片评定范围的宽度应至少为焊缝本身及焊缝两侧热影响区（不小于5mm）。
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5.19 底片质量
5.19.1 底片评定范围内的黑度值应符合表6的规定。
表6 底片的黑度范围
射线种类 X射线 γ射线 底片黑度D 1.5～4.0 1.8～4.0 注：底片有效评定区域内的黑度，用搭接标记处焊缝的黑度和中心处热影响区的黑度表示。 5.19.2 对评定范围内的黑度大于4.0的底片，如有计量检定报告证明所用观片灯在底片评定范围内透过的亮度不低于10cd/m2时，可进行评定。
5.19.3 底片上的像质计和检测标记应齐全，位置应正确，且不应掩盖被检焊缝的影像。 5.19.4 底片上像质计灵敏度指数应满足5.5.2的规定。
5.19.5 底片有效评定区域内不应存在干扰缺欠影像识别的水迹、划痕、斑纹等伪缺陷影像。 5.20 质量分级
5.20.1 线路工程焊接接头质量分级
5.20.1.1 根据对接接头内存在缺欠的性质、数量和密集程度，将对接接头分为下列四个等级，即Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ和Ⅳ级。
a） Ⅰ级对接接头内不应存在裂纹、未熔合、未焊透、条状夹渣（气孔）、烧穿、内凹和内咬
边；
b） Ⅱ、Ⅲ级对接接头内不应存在裂纹、外表面未熔合； c） 对接接头中缺欠超过Ⅲ级者为Ⅳ级。 5.20.1.2 圆形缺欠的质量分级应符合以下规定：
a) 长宽比大于3的缺欠定义为条形缺欠，长宽比小于或等于3的缺欠定义为圆形缺欠。圆形
缺欠可是圆形、椭圆形、锥形或带有尾巴（在测定尺寸时应包括尾部）等不规则形状，包括气孔、夹渣和夹钨等。
b) 圆形缺欠用圆形缺欠评定区进行评定，评定区域的大小见表7。评定区框线的长边应与焊
缝平行。框线内应包含最严重区域的主要缺欠，与框线外切的缺欠不应计入评定区，相割的缺欠应计入评定区。
c) 圆形缺欠应按表8的规定换算成点数。
12
d) 不计点数的圆形缺欠应符合表9的规定。
表7 缺欠评定区 单位为毫米
母材厚度T 评定区尺寸 ≤25 10×10 ＞25～50 10×20 表8 缺欠点数换算表
缺欠长径 ㎜ 点数 ≤1 1 ＞1～2 2 ＞2～3 3 ＞3～4 6 ＞4～6 10 ＞6～8 15 ＞8 25 表9 不计点数的缺欠尺寸 单位为毫米
母材厚度T ≤25 ＞25～50 缺欠长径 ≤0.5 ≤0.7 e) 圆形缺欠应按表10的规定进行质量分级。
表10 圆形缺欠的质量分级
评定区 ㎜×㎜ 母材厚度 ㎜ Ⅰ 等 级 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 2～5 1 3 6 10×10 ＞5～15 2 6 12 ＞15～25 3 9 18 缺欠点数大于Ⅲ级者 10×20 ＞25～50 4 12 24 f) 由于材质或结构等影响，进行返修可能会产生不利后果的对接接头，各级别的圆形缺陷点
数可放宽一点至二点。
g) Ⅰ级对接接头和母材厚度小于或等于5mm的Ⅱ级对接接头内不计点数的圆形缺欠，在评
定区内多于10点时，焊缝质量应降低一个级别。 h) 圆形缺欠长径大于T/2时，应评为Ⅳ级。
i) 底片上黑度较大的缺欠，如确认为柱孔或针孔时，应评为Ⅳ级。 5.20.1.3 条状夹渣（气孔）的质量分级应符合表11的规定。
13
表11 条状夹渣的质量分级
质量级别 Ⅱ ≤2 Ⅲ Ⅳ ≤30 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过75㎜。 大于Ⅲ级者 缺欠宽度 mm 单个缺欠长度 mm ≤25 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过50㎜。 5.20.1.4 条状气孔的质量分级应符合表12的规定。
表12 条状气孔的质量分级
质量级别 Ⅱ ≤2 Ⅲ Ⅳ ≤25 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过75㎜。 缺欠宽度 mm 单个缺欠长度 mm ≤13 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过50㎜。 大于Ⅲ级者或缺欠的影像黑度超过相邻较薄侧母材影像黑度者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 5.20.1.5 中间未焊透及夹层未熔合的质量分级应符合表13的规定。
表13 中间未焊透及夹层未熔合的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 mm ≤25 ≤30 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过50㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过75㎜。 大于Ⅲ级者或缺欠的影像黑度超过相邻较薄侧母材影像黑度者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 5.20.1.6 根部未熔合的质量分级应符合表14的规定。
表14 根部未熔合的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 mm ≤12.5 ≤25 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过25㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过50㎜。 大于Ⅲ级者或缺欠的影像黑度超过相邻较薄侧母材黑度者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 14
5.20.1.7 根部未焊透及错边未焊透的质量分级应符合表15的规定。
表15 根部未焊透及错边未焊透的质量分级
质量级别 单个缺欠长度 mm Ⅱ ≤25 根部未焊透 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过25㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过60㎜。 单个缺欠长度 mm ≤25 错边未焊透 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，单个或累计长度不应超过50㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，单个或累计长度不应超过75㎜。 Ⅲ Ⅳ ≤30 ≤30 大于Ⅲ级者或缺欠的影像黑度超过相邻较薄侧母材黑度者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 5.20.1.8 内凹的影像黑度小于或等于较薄侧母材黑度时，长度不计，应评为Ⅱ级；内凹的影像黑度大于较薄侧母材黑度时，应按表16评定。
表16 内凹的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 ㎜ ≤25 ≤50 缺欠累计总长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过50㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过75㎜。 大于Ⅲ级者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 5.20.1.9 烧穿的影像黑度小于较薄侧母材黑度时，长度不计，应评为Ⅱ级。烧穿的影像黑度大于较薄侧母材黑度时应按表17进行评定。
5.20.1.10 内咬边的影像黑度小于或等于较薄侧母材黑度时，长度不计，应评为Ⅱ级。影像黑度大于较薄侧母材黑度时的质量分级见表18。
表17 烧穿的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 ㎜ ≤6 ≤13 缺欠累计总长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过13mm 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过25mm 大于Ⅲ级者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 15
表18 内咬边的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 ㎜ ≤25 ≤35 缺欠累计总长度 任何连续300mm焊缝长度内，其累计长度不应超过50mm。 任何连续300mm焊缝长度内，其累计长度不应超过75mm。 大于Ⅲ级者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为烧穿的影像黑度大于较薄侧母材黑度。
5.20.1.11 在圆形缺欠评定区内同时存在圆形缺欠和条形缺欠时，应进行综合评级，分别对圆形缺欠和条形缺欠评定级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。
5.20.1.12 任何连续300㎜的焊缝长度中，Ⅱ级对接接头内条状夹渣、未熔合及未焊透的累计长度不应超过50㎜；Ⅲ级对接接头内条状夹渣、未熔合及未焊透的累计长度不应超过75㎜。 5.20.2 站场工程对接焊接接头质量分级
5.20.2.1 根据对接接头内存在缺欠的性质、数量和密集程度，将对接接头分为下列四个等级，即Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ和Ⅳ级。
a） Ⅰ级对接接头内不应有裂纹、未熔合、未焊透、条状夹渣（气孔）、烧穿、内凹和内咬边； b） Ⅱ级和Ⅲ级对接接头内不应有裂纹、外表面未熔合； c） 对接接头中缺欠超过Ⅲ级者为Ⅳ级。
5.20.2.2 圆形缺欠的质量分级应符合5.20.1.2条的规定。 5.20.2.3 条状夹渣（气孔）的质量分级应符合表19和表20的规定。
表19 条状夹渣（气孔）的质量分级
质量级别 Ⅱ ≤2 Ⅲ Ⅳ ≤25 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过50mm。 大于Ⅲ级者 缺欠宽度 mm 单个缺欠长度 mm ≤12.5 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过25mm。
16
表20 小径管对接接头条状夹渣的质量分级 质量级别 Ⅱ ≤2 Ⅲ Ⅳ a 缺欠宽度 mm 单个缺欠长度 mm ≤8 ≤13 缺欠累计长度 小于或等于5%L，且不应超过12mm。 小于或等于8% L，且不应超过20mm。 大于Ⅲ级者 L为被检管道焊缝长度，单位为毫米（mm）。 5.20.2.4 夹层未熔合的质量分级应符合表21和表22的规定。
表21 夹层未熔合的质量分级
单个缺欠长度 质量级别 mm Ⅱ Ⅲ Ⅳ ≤12.5 ≤25 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过25mm。 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过50mm。 缺欠累计长度 大于Ⅲ级者或缺欠的影像黑度超过相邻较薄侧母材影像黑度者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 表22 小径管夹层未熔合的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 mm ≤8 ≤13 缺欠累计总长度 小于或等于5%La，且不应超过12mm。 小于或等于8%L，且不应超过20mm。 大于Ⅲ级者或缺欠的影像黑度超过相邻较薄侧母材影像黑度者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 a L为被检管道焊缝长度，单位为毫米（mm）。 5.20.2.5 根部未熔合质量分级应符合表23和表24的规定。
表23 根部未熔合的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 mm ≤10 ≤12.5 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过20㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过25㎜。 大于Ⅲ级者或缺欠的射线影像黑度超过相邻较薄侧母材黑度者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 17
表24 小径管根部未熔合的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 mm ≤5 ≤7.5 缺欠累计总长度 小于或等于5%L，但最大不应超过12.5mm。 小于等于8%La 大于Ⅲ级者或缺欠的影像黑度超过相邻较薄侧母材影像黑度者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 a L为被检管道焊缝长度，单位为毫米（mm）。 5.20.2.6 未焊透的质量分级应符合表25、表26和表27的规定。
表25 中间未焊透质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 ㎜ ≤12.5 ≤25 缺欠累计总长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过25㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过50㎜。 大于Ⅲ级者或缺欠的射线影像黑度超过相邻较薄侧母材黑度者 注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 表26 根部未焊透和错边未焊透的质量分级
质量级别 单个缺欠长度 mm Ⅱ ≤10 其累计长度不应超过20㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，Ⅲ Ⅳ ≤12.5 其累计长度不应超过25㎜。 ≤50 其累计长度不应超过75㎜。 大于Ⅲ级者或根部未焊透的射线影像黑度超过相邻较薄侧母材黑度者 根部未焊透 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，≤25 其累计长度不应超过50㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，单个缺欠长度 mm 错边未焊透 缺欠累计长度 任何连续300㎜的焊缝长度内，注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 表27 小径管接头根部未焊透的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 单个缺欠长度 ㎜ 12 25 缺欠累计总长度 ≤10%L，且不应超过18㎜ ≤15%L，且不应超过25㎜ 大于Ⅲ级者或缺欠的射线影像黑度超过相邻较薄侧母材黑度者 a注： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 a L为被检管道焊缝长度，单位为毫米（mm）。 18
5.20.2.7 内凹的影像黑度小于或等于较薄侧母材黑度时，长度不计，应评为Ⅱ级；内凹的影像黑度大于较薄侧母材黑度时，按表28和表29评定。
表28 内凹的质量分级
单个缺欠长度 质量级别 mm Ⅱ Ⅲ Ⅳ ≤25 ≤50 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过50㎜。 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超过75㎜。 大于Ⅲ级者 缺欠累计总长度 注：缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 表29 小径管内凹的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ 连续或断续内凹累计长度 ≤4%L且不应超过25mm。 ≤8%L且不应超过35mm。 大于Ⅲ级者 a注1： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 a L为被检管道焊缝长度，单位为毫米（mm）。 5.20.2.8 烧穿的影像黑度小于较薄侧母材黑度时，长度不计，应评为Ⅱ级。烧穿的影像黑度大于较薄侧母材黑度时应按表30和表31进行评定。
表30 烧穿的质量分级
单个缺欠长度 质量级别 mm Ⅱ Ⅲ Ⅳ ≤6 ≤13 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超13mm。 任何连续300㎜的焊缝长度内，其累计长度不应超25mm。 大于Ⅲ级者 缺欠累计长度 注：缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为缺欠的影像黑度大于较薄侧母材黑度。
19
表31 小径管对接接头烧穿的质量分级 质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ a缺欠长度 mm ≤T且不应超过6 ≤9 大于Ⅲ级者或任意尺寸的缺欠多于1个 注2： 缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为烧穿的影像黑度大于较薄侧母材黑度。 aT为接头母材厚度，不等厚母材对接时，T为较薄侧母材厚度，单位为mm。 5.20.2.9 内咬边的影像黑度小于或等于较薄侧母材黑度时，长度不计，应评为Ⅱ级。影像黑度大于较薄侧母材黑度时的质量分级见表32和表33。缺欠影像中任意部位的黑度大于较薄侧母材黑度时，即认为烧穿的影像黑度大于较薄侧母材黑度。
表32 内咬边的质量分级
单个缺欠长度 质量级别 mm Ⅱ Ⅲ Ⅳ ≤25 ≤35 任何连续300mm焊缝长度内，其累计长度不应超过50mm。 任何连续300mm焊缝长度内，其累计长度不应超过75mm。 大于Ⅲ级者 缺欠累计长度 表33 小径管内咬边的质量分级
质量级别 Ⅱ Ⅲ Ⅳ a连续或断续内咬边长度 ≤10%La ≤15%L 大于Ⅲ级者 L为被检管道焊缝长度，单位为毫米（mm）。 5.20.2.10 在圆形缺欠评定区内同时存在圆形缺欠和条形缺欠时，应进行综合评级，分别对圆形缺欠和条形缺欠评定级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。
5.20.2.11 任何连续300㎜的焊缝长度中，Ⅱ级对接接头内条状夹渣、未熔合及未焊透的累计长度不应超过35㎜；Ⅲ级对接接头内条状夹渣、未熔合及未焊透的累计长度不应超过50㎜。 5.21 射线检测报告
射线检测报告内容至少应包括：被检管线情况（工程编号、规格、材质、桩号、焊口编号等）；检测条件及工艺（仪器、胶片、增感方式、像质计、透照方式、检测标准等）；报告人（级别）、审
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核人（级别）、检测结论、报告日期及检测单位盖章等。检测报告格式参加附录C。 6 超声检测 6.1 超声检测人员
凡从事超声检测的工作人员除应符合4.4的有关规定外，还应满足下列要求：
a) 未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力不应低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB 11533的规定；
b) 从事超声检测的人员应每年检查一次视力。 6.2 探伤仪
采用数字A型脉冲反射式探伤仪，其工作频率范围应为1MHz～10MHz。仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。探伤仪应具有80dB以上的连续可调衰减器，步进级每档小于或等于2dB，其精度为任意相邻12dB误差在±ldB以内，最大累计误差不应超过1dB。水平线性误差不应大于1%，垂直线性误差不应大于5%。其余指标应符合JB/T 10061的规定。 6.3 探头
6.3.1 探头的标称频率应为2.0MHz～5.0MHz。
6.3.2 单斜探头主声束垂直方向不应有明显的双峰，声束轴线水平偏离角不应大于2°。 6.4 超声探伤仪和探头的系统性能
6.4.1 在达到所检工件最大检测声程处，其有效灵敏度余量不应小于10dB。 6.4.2 仪器和探头的组合频率与公称频率误差不应大于±10%。 6.4.3 斜探头的远场分辨力不应小于6dB。
6.4.4 仪器和探头的系统性能应按JB/T 9214和JB/T 10062的规定进行测试。 6.5 试块
6.5.1 本标准采用SGB标准试块和SRB对比试块，其形状和尺寸见图5和图6。
21
通孔编号 半径R 1 30 2 48 3 76 4 120 5 200 6 平面
图5 SGB试块形状与尺寸
φ
Φ---被检管线外径； T---被检管线公称壁厚； h---内壁环状矩形槽的槽深； h=10%T且h≤1.5mm。
图6 SRB试块形状与尺寸
6.5.2 SGB试块用于测定探伤仪和探头的系统性能、对仪器做调试和校验以及检测校准。根据不同曲率的被检管件，制作六种SGB试块。每种SGB试块的适用管径范围应符合表34的规定。 6.5.3 SRB对比试块的材料应在被检管道上平行于管道轴线方向截取。加工后的试块宽度不宜小于50mm。SRB试块用于比较焊缝根部未焊透深度。
6.5.4 试块应采用与被检材料相同或声学性能相近的钢材制成。其材料用直探头检测时，不应出现直径大于2mm的平底孔回波幅度1/4的缺欠信号。试块的制作要求应符合JB/T 8428的规定。 6.6 检测面
6.6.1 探头移动区应清除飞溅、锈蚀、油污及其他外部杂质，检测表面应修磨平整光滑，其表面粗
22
糙度不应超过6.3μm。焊缝及检测面经外观检查合格后方可进行超声波检测。
表34 SGB试块适用范围表 弧面半径 编号 Mm SGB—1 SGB—2 SGB—3 SGB—4 SGB—5 SGB—6 30 48 76 120 200 平面 mm 57～89 ＞89～140 ＞140～210 ＞210～360 ＞360～600 ＞600 适用管外径范围Φ
6.6.2 探头移动区的确定应符合下列规定：
a） 采用一次反射法检测时，探头移动区不应小于1.25P，P应按下式计算： b） 采用直射法检测时，探头移动区不应小于0.75P。
P=2KT…………………………………………………（2）
式中：
P—跨距，单位为毫米（mm）； T—板厚，单位为毫米（mm）； K—折射角正切值。
6.7 耦合剂
6.7.1 耦合剂应具有良好的透声性和适宜的流动性，不应对人体和材料有损害。典型的耦合剂为化学浆糊、洗涤剂、机油和甘油等。
6.7.2 在试块上调节仪器和在现场检测对接接头时，应采用相同的耦合剂。 6.8 探头的选择
6.8.1 选择母材厚度为5㎜～14㎜范围内的探头参数时应符合下列规定：
a） 采用直射法时探头产生的折射波声束至少应能扫查到焊缝厚度的3/4部位。探头角度的选
择应符合表35的规定；
23
表35 探头K值（折射角）及前沿的选择
管壁厚度 mm 5～8 ＞8～14 3.0～2.5（71.5°～68.2°） 2.5～2.0（68.2°～63.5°） 探头K值（折射角） 探头前沿 mm ≤6 ≤8 b） 探头频率宜采用5 MHz；
c） 探头晶片尺寸宜选用6㎜×6㎜、8㎜×8㎜、7㎜×9㎜、9㎜×9㎜等；
d） 探头与探伤仪应有良好的匹配性能，在扫查灵敏度的条件下，探头的始脉冲宽度应小于或
等于2.5㎜（相当于钢中深度）； e） 斜探头的分辨力应大于或等于20dB；
f） 探测外径为57㎜～140㎜的对接环焊缝时，探头的接触面应与管子外表面紧密接触，其边
缘与管子外表面的间隙不应大于0.5mm。可通过在管子表面上铺上细砂纸沿轴向轻轻研磨制得，研磨后的探头入射点和K值应重新测定。
6.8.2 选择母材厚度为14㎜～50㎜范围内的探头参数时应符合下列规定：
a） 探头K值的选择见表36。检测根部缺欠时，不宜使用折射角为60°的探头；
表36 探头K值（折射角）及前沿选择
管壁厚度 mm ＞14～50 探头K值（折射角） 2.0～1.0（63.5°～45°） 探头前沿 mm ≤12 b） 探头频率宜采用2.5 MHz；
c） 探头宜采用方形晶片，晶片的有效面积不应大于96㎜。 6.9 距离-波幅曲线的制作
6.9.1 扫描线调节应在SGB标准试块上进行，扫描比例应依据工件厚度和所选探头角度来确定。 6.9.2 应按所选用探头和仪器在相应的SGB标准试块上实测数据绘制而成，实测点不应少于三点。该曲线族图由评定线（EL）、定量线（SL）和判废线（RL）组成。评定线与定量线之间（包括评定线）为Ⅰ区，定量线与判废线之间（包括定量线）为Ⅱ区，判废线及以上区域为Ⅲ区，如图7所示。 6.9.3 工件表面耦合引起的声能损失应与试块相同，否则应进行表面声能损失差测定，并应将测试结果记入距离—波幅曲线。在一跨距声程内最大传输损失差小于或等于2dB时可不进行补偿。工件表面声能损失差的测定见附录D。
24
2
6.9.4 在整个检测范围内，曲线应处于荧光屏满幅度的20%以上，如满足不了要求，可采用分段绘制的方法。
6.9.5 为发现和比较根部未焊透深度，应在SRB对比试块上测定人工矩形槽的反射波位置和幅度，并应标在荧光屏上。测定方法应符合附录E的要求。
图7 距离—波幅曲线
6.9.6 距离-波幅曲线灵敏度应符合表37的规定：
表37 距离-波幅曲线的灵敏度
管壁厚度 ㎜ 5～50 评定线 EL Ф2mm×20mm–14dB 定量线 SL Ф2mm×20mm–8dB 判废线 RL Ф2mm×20mm–2dB 6.10 校准
6.10.1 校准应在SGB标准试块上进行，校准中应使探头主声束垂直对准反射体，以获得稳定的和最大的反射信号。
6.10.2 在仪器开始使用时，应按JB/T 10061的规定测定仪器的水平线性和垂直线性等指标。在使用过程中，每隔三个月至少应对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定。
6.10.3 新探头使用前至少应按JB/T 10062的有关规定测定前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨率等主要参数。并满足检测要求。
6.10.4 使用过程中，每个工作日均应测定前沿距离、K值和主声束偏离。 6.11 仪器和探头系统的复核
6.11.1 每次检测前均应对扫描量程、检测灵敏度进行复核，遇有下述情况之一时应对其进行重新核查：
a） 校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋纽发生改变；
25
b） 检测人员怀疑灵敏度有变化； c） 连续工作4h以上； d） 工作结束时。
6.11.2 每次检测结束前，应对扫描量程进行复核。如距离─波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的10%，则应对扫描量程重新调整，并应对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。
6.11.3 每次检测结束前，应对检测灵敏度进行复核。对距离-波幅曲线的校核不应少于三点。如曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次复核以来所有的检测部位进行复检；如曲线上任何一点波幅度上升2dB，则应对上一次以来所有的记录信号进行重新评定。 6.12 检测一般要求
6.12.1 检测前检测人员应了解被检管道的材质、壁厚、曲率、组对状况、坡口形式、焊接方法、焊缝余高、焊缝宽度等情况。
6.12.2 应采用单面双侧直射法和反射波法检测。 6.12.3 扫查灵敏度不应低于评定线灵敏度。
6.12.4 扫查速度不应大于150mm/s，当采用自动报警装置扫查时不受此限制；相邻两次探头移动间隔至少应有10%探头宽度的重叠。
6.12.5 为探测纵向缺欠，探头应垂直焊缝中心线做矩形或锯齿形扫查，探头前后移动范围应保证能扫查到全部焊缝截面及热影响区，保持探头垂直焊缝作前后移动的同时，应作10°～15°的左右扫查。
6.12.6 检测横向缺欠时，应将波幅曲线灵敏度均提高6dB。
6.12.7 检测区的宽度应是焊缝本身，再加上焊缝两侧各相当于母材厚30%的一段区域，该区域最小应为5mm，最大应为10mm。 6.13 缺欠定量
6.13.1 对反射波幅位于或超过定量线的缺欠以及判定为根部未焊透的缺欠，应确定其位置、最大反射波所在区域和缺欠指示长度。
6.13.2 缺欠位置测定应以获得缺欠最大反射波的位置为准，根据相应的探头位置和反射波在荧光屏上的位置确定，在焊缝周向分度点为起点，沿介质流出方向投影，顺时针进行标记。深度标记应以缺欠最大反射波的深度值表示。
26
6.13.3 测定缺欠的最大反射波幅时，应将探头移至缺欠出现最大反射波信号的位置，测定波幅大小，并应确定它在距离-波幅曲线中的区域。
6.13.4 应根据缺欠最大反射波幅确定缺欠指示长度，缺欠最大反射波幅与定量线（SL）的分贝（dB）差，记为SL±△L dB。
a) 当缺欠反射波只有一个高点，且位于Ⅱ区或Ⅱ区以上时，使波幅降低到荧光屏满刻度的80%
后，应用6dB法测其指示长度；
b) 当缺欠反射波峰值起伏变化，有多个高点，且位于Ⅱ区或Ⅱ区以上时，使波幅降低到荧光
屏满刻度的80%，应用端点6dB法测其指示长度；
c) 当缺欠反射波峰位于Ⅰ区，如认为有必要记录时，应将探头左右移动，使波峰降到评定线，
以此测定缺欠的指示长度。
6.14 缺欠评定
6.14.1 超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺欠性质，如有怀疑时，应采取改变探头K值、观察动态波型并结合工件结构特征作判定，如对波型不能判定时，应辅以其他检测方法综合判定。裂纹类缺欠的动态波型判定可参考附录F。 6.14.2 缺欠指示长度小于10㎜时，应按5㎜计。
6.14.3 相邻两缺欠在一直线上，且其间距小于较小的缺欠长度时，应做为一个缺欠处理，以两缺欠长度之和作为其指示长度（不考虑间距）。 6.15 质量分级
应根据存在缺欠的性质和数量，将对接接头分为下列四个等级，即Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ和Ⅳ级：
——缺欠的反射波幅位于定量线以下的非危害性缺欠均评为Ⅰ级。 ——缺欠信号具有裂纹等危害性特征，均评为Ⅳ级。
——最大反射波幅位于Ⅲ区的缺欠，无论指示长度如何，均评为Ⅳ级。
——最大反射波高度大于或等于SRB试块人工矩形槽反射波峰值点的未焊透缺欠应评定为Ⅳ
级。
——最大反射波位于Ⅱ区的缺欠以及波幅高度小于SRB对比试块人工矩形槽反射波峰值点的未
焊透缺欠，应根据缺欠的指示长度，按表38的规定评定。
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表38 质量分级
评定等级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ 注： 错边未焊透，按非开口缺欠处理。 aa开口缺欠指示长度 不允许 ≤4%L且任意300㎜内不大于20㎜ ≤8%L且任意300㎜内不大于25㎜ 非开口缺欠指示长度 不允许 ≤4%L且任意300㎜内不大于25㎜ ≤8%L且任意300㎜内不大于50㎜ 超过Ⅲ级者 L为管道焊缝长度，单位为毫米（mm）。
6.16 超声检测报告
超声波检测报告至少应包括下列内容，检测报告格式参见附录C： ——被检管线情况（工程编号、规格、材质、桩号、焊口编号等）；
——检测条件及工艺（仪器、探头、扫查方式、仪器调节参数、检测标准等）； ——报告人（级别）； ——审核人（级别）； ——检测结论；
——报告日期及检测单位盖章。 7 全自动超声波检测 7.1 检测人员
凡从事全自动超声波检测的工作人员除应符合本标准4.4条的有关规定外，还应满足下列规定：
a) 未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB11533的规定；
b) 从事评判工作的检测人员应一年检查一次，不应有色盲。 7.2 超声设备
7.2.1 超声系统应能提供足够数量的检测通道，保证在管道环向扫查一周即可对整个焊接接头厚度方向的分区进行全面扫查。仪器的线性每六个月应校准一次，对一次工作预期超过六个月但不超过一年的，仪器线性可只在工作前做一次校准。垂直线性误差小于或等于满屏高的5%，水平线性误差
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小于或等于满刻度的1%，闸门的位置和宽度及信号电平连续可调。 7.2.2 记录系统应符合下列规定：
a) 应采用编码器记录焊接接头环向扫查的位置，并应配置校正系统。记录系统应清楚地指示
出缺欠相对于扫查起始点的位置，误差为 ±10mm；
b) 焊接接头扫查记录应包括A扫描、B扫描及TOFD（衍射时差法）图像显示方式，也可添
加其他显示方式。焊接接头的检测结果应显示在扫查记录上，并应在记录上有声耦合显示； c) 采用TOFD技术时，记录系统应能作256级灰度显示并应能记录全射频（Full R-F）波型。 7.3 探头
7.3.1 探头应标出制造厂家的名称、探头类型、声束入射角或折射角、楔块声速、频率及晶片尺寸等，并应符合检测技术要求。
7.3.2 探头阵列的设计应按被检测焊接接头坡口参数而定。 7.3.3 探头楔块表面曲率应与管道表面曲率相吻合。 7.4 对比试块
7.4.1 对比试块设计及制作应符合下列规定：
a) 对比试块材料应为被检测管道的一段，也可用与被检管道规格相同、声学性能相似的材料
制成。对比试块材料在用直探头以直径为2mm平底孔灵敏度检测时，不应出现大于直径为2mm平底孔1/4回波幅度的缺欠信号；
b) 对比试块制作应根据被检测接头的坡口参数等要求进行，并应符合对比试块产品技术条件； c) 应根据焊接接头坡口形式及焊接层数对焊接接头进行分区，每个区高度宜为2mm～3mm，应
在坡口熔合线上设置两个对称的人工反射体来调节检测灵敏度和对缺欠定位。该反射体为主反射体，应采用聚焦探头检测； d) 人工反射体的设置应符合下列规定：
1） 应在坡口面上设置人工反射体为直径为2mm～3mm的平底孔。平底孔轴线应垂直于坡口面
且在坡口面长度方向等分；
2） 应在外表面的熔合线上设置方型槽，其深为1mm、宽为2mm、槽长为10mm～20mm。也
可在根焊区设槽，长度为10mm～20mm，其深度和角度应与被检焊缝根部坡口形式一致； 3） 应在焊缝中心线上设置一个直径为2mm的通孔或制作一个宽1mm、长5mm的通槽，该孔
或槽轴线应与焊缝截面中心线相重合且垂直于管壁；
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4） 必要时，可在钝边处设一个平底孔，其轴线应垂直于钝边并与钝边中心重合。 e) 人工反射体在水平方向的布置应使显示信号达到独立的程度，邻近区反射体信号不应互相
干扰；
f) 除7.4.1条d项对人工反射体的最低要求外，应增加体积通道目标反射体、TOFD通道验证
反射体，也可增加横向缺欠等附加反射体，但不应与规定的熔合区反射体相抵触； g) 人工反射体允许误差应符合下列规定：
――孔直径：±0.1mm； ――槽长度：±0.1mm； ――槽深度：±0.2mm； ――角 度：±1°；
――反射体中心位置：±0.1mm。
h) 人工反射体的设置方法及在试块上的总体布置可参考附录G。
7.4.2 对比试块应经取得国家相应计量资质的单位检定，并应调试合格，方可使用。
7.4.3 对比试块应做出永久性标记。内容应包括制造厂、管径、壁厚、坡口型式、声速及编号等。 7.5 耦合剂
7.5.1 耦合剂应具有良好的透声性和适宜的流动性，对材料、人体及环境应无损害，并应便于清理。 7.5.2 耦合剂宜为水，在零度以下可采用乙醇水溶液或类似介质。 7.5.3 调节仪器和实施检测应采用同一种耦合剂。 7.6 检测系统设置
7.6.1 系统设置前应测定被检测管材的声速。声速测定方法应符合附录H的规定。
7.6.2 检测系统设置时，应将焊接接头沿厚度方向进行分区，每个区应用一对或两对接触式聚焦探头检测。此外还应采用接触式非聚焦探头对焊接接头进行检测。 7.6.3 探头位置的确定应符合下列规定：
a) 在对比试块的模拟焊缝中心线两侧，根据反射体的位置，将探头排布在轨道上的扫查器中； b) 移动扫查器，分别调整探头的位置，使每个探头对应的反射体信号均达到峰值，即为该探
头的位置；
c) 在对比试块上完好部位调节TOFD发射探头和接收探头的位置，使其声束轴线交点位于2/3
壁厚处，即为TOFD探头的位置。
30
7.6.4 基准灵敏度的确定应符合下列规定：
a) 将每个探头的峰值信号调整到满屏高度的80%，即为该探头的基准灵敏度；
b) 在对比试块上将TOFD通道的直通波调整到满屏高的40%~90%，而噪声电平低于满屏高度
的5%～10%，即为TOFD探头的基准灵敏度。
7.6.5 闸门及扫查灵敏度设置应符合下列规定：
a) 用熔合区的反射体应设置闸门，闸门的起点应在坡口熔合线前至少3mm，闸门终点应超过
焊接接头中心线至少1mm；该区另一侧闸门的设置应与上述相同；
b) 当管子壁厚大于或等于12mm时，在填充区(含盖面区、热焊区)、的焊接接头中心线上应
设置附加反射体来调节体积通道的灵敏度并设置闸门。闸门的起点应在探头侧坡口熔合线前至少1mm，闸门终点应至少覆盖探头对面坡口熔合线；该区另一侧闸门的设置应与上述相同。扫查灵敏度宜在附加反射体基准灵敏度的基础上提高8dB～14dB，但不应影响评定；
c) 当管子壁厚小于12mm时，可用熔合区的反射体调节体积通道的灵敏度并设置闸门。闸门
的起点应在探头侧坡口熔合线前至少1mm，闸门终点至少应覆盖探头对面坡口熔合线；该区另一侧闸门的设置应与上述相同。填充区扫查灵敏度宜在熔合区基准灵敏度的基础上提高8dB～14dB，但不应影响评定；
d) 用对比试块上根焊区反射体来确定闸门的位置，闸门的起点应在坡口前至少3mm，闸门终
点应足够长，保证覆盖根焊区；该区另一侧闸门的设置应与上述相同。扫查灵敏度宜在直径为1.5mm～2㎜平底孔回波信号80%满屏高的基础上提高4dB～14dB，但不应影响准确评定；
e) 在对比试块上完好部位设置TOFD闸门。闸门的起点应设在直通波前面，闸门的终点应滞后
底面反射波，闸门的长度应大于被检工件的壁厚。若检测需要，闸门的长度可将底面反射波波形转换信号包括在内。
7.6.6 记录闸门电平不应低于满屏高度的20%，评定闸门电平为满屏高度的40%，超过此幅度的信号应按第7.9条评定。
7.6.7 应以A扫描、B扫描及TOFD等方式显示每个通道的输出信号，且应能对称显示焊缝中心线两边的情况。设置的扫查记录长度应100%覆盖整个接头长度，并应有一定的重叠。 7.6.8 圆周扫查速度应按下式计算：
Vc≤Wc·PRF/3 ……………………………………（3）
式中：
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Vc ——圆周扫查速度，单位为毫米每秒（mm/s）；
Wc ——用半波高度法测量时探头在检测有效距离处的最窄声束宽度，单位为毫米(mm)；
PRF ——探头的有效脉冲重复频率，单位为赫兹 (Hz)。
7.7 检测系统动态调试
7.7.1 系统参数选定后，应使用与现场检测相同的扫查速度对对比试块进行总体扫查。 7.7.2 系统调试应符合下列规定：
a) 每个反射体的峰值信号应达到满屏高的80%。TOFD的直通波幅度应为满屏高的40%~90%。
扫查过程中对比试块上主反射体的波幅达到满屏高度80%时，其两侧临近反射体的显示波幅的变化范围应为6dB～24dB。当未达到此值时应重新确定探头位置或替换探头重新调试； b) 在对比试块上进行总体扫查，耦合监视通道应保证在耦合状态良好时，扫查记录上应无耦
合不良显示，否则应重新调试；
c) 编码器记录的反射体位置与实际圆周位置的误差为±2mm。 7.8 表面条件
7.8.1 探头移动区的宽度应按检测设备、坡口形式及被检焊接接头的厚度等确定，其范围宜为焊接接头两侧各不小于150mm。
7.8.2 焊接接头两侧探头移动区内，管子制管内外焊接接头（如螺旋焊接接头、直焊接接头等）应用机械方法打磨至与母材齐平，打磨后焊接接头余高应为0mm ~0.5mm，且应与母材圆滑过渡。 7.8.3 探头移动区内不应有防腐涂层（如环氧粉末）、飞溅、锈蚀、油垢及其他外部杂质。 7.8.4 当被检测管道表面与对比试块表面粗糙度差别较大时应考虑耦合补偿。 7.9 检测标识和参考线
7.9.1 每道被检测焊接接头应有检测标识，在平焊位置应有起始标记和扫查方向标记。起始标记宜用“0”表示，扫查方向标记应用箭头表示，宜沿介质流动方向顺时针画定，所有标记应对扫查结果无影响。
7.9.2 在焊接之前，应在管端表面划一条平行于管端的参考线，参考线距坡口中心线的距离不宜小于40mm，参考线位置误差为±0.5mm。 7.10 扫查灵敏度
7.10.1 熔合区的扫查至少应在基准灵敏度下进行。
32
7.10.2 体积通道的扫查灵敏度应符合本标准第7.6.5条的规定。 7.10.3 TOFD通道的扫查灵敏度不应低于基准灵敏度。 7.11 系统性能校验
7.11.1 灵敏度的校验应符合下列规定：
a) 在每班检测前、检测过程中应每隔2h或扫查完10道焊接接头之后（以时间短者为准）以
及检测工作结束后，利用对比试块进行校验，每个主反射体的波幅应在满屏高度的70%～99%之间，其两侧邻近反射体的波幅应在6dB～24dB之间；若主反射体的信号低于满屏高度的70%，应对其检查的焊接接头重新检测；若主反射体的信号高于满屏高度的99%，应对其检测结果重新评定。
b) 对于体积通道，峰值信号应达到满屏高的100％为合格，否则应重新检测。
c) 检测过程中，TOFD的直通波幅度应达到满屏高的40%~90%为合格，否则应重新检测。 7.11.2 圆周位置精确度应在开工之前及每隔一个月校验一次，扫查器上编码器的零点与被检对接接头零点位置应重合，扫查至1/4、1/2和3/4圆周位置时，焊接接头扫查图上显示的编码位置应与被检对接接头上的位置相对应，其误差为±10mm，否则应重新校验编码器。
7.11.3 在检测过程中，记录系统的耦合监视通道显示的耦合不良区域超过3mm时，应对耦合不良区域进行处理后重新检测。
7.11.4 对比试块的温度与被检管件的温度差变化超过±10℃时，整个系统应重新调试。 7.12 缺欠显示评定
7.12.1 应在A扫描中从超过记录电平且颜色变化的图像中或在B扫描、TOFD图像中确认相关显示，测定缺欠的尺寸和位置，估判缺欠性质，并应按7.14和7.15的规定进行验收和签发检测报告。 7.12.2 返修后的焊接接头仍应按本标准进行评定和验收。 7.13 缺欠显示分类
7.13.1 显示应分为相关显示和非相关显示。
7.13.2 非相关显示包括由错边引起焊接接头余高的变化、根焊和盖面焊以及坡口形状的变化等引起的显示。相关显示是由缺欠引起的显示，应分为线型显示和体积型显示。 7.14 验收标准
7.14.1 符合下列条件之一的相关显示应为缺陷：
33
a) 判定为裂纹的相关显示；
b) 周向位置相同的多个相关显示，其自身高度之和大于1/2壁厚。 7.14.2 表面非裂纹线型缺欠显示，符合下列条件之一的应为缺陷：
a) 当分区高度小于或等于2.5mm时，缺欠自身高度大于2.5mm；当分区高度大于2.5mm时，
缺欠自身高度大于分区高度；
b) 在任何连续300mm的焊接接头长度中，其累计长度超过25mm； c) 外表面开口缺欠。
7.14.3 焊接接头内部线型缺欠显示，符合下列条件之一的应为缺陷：
a) 当分区高度小于或等于2.5mm时，缺欠自身高度大于2.5mm；当分区高度大于2.5mm时，
缺欠自身高度大于分区高度；
b) 单个缺欠长度超过25mm或在任何连续300mm的焊接接头长度中，缺欠显示的累计长度
超过50mm。
7.14.4 体积型缺欠显示（点状夹渣、点状气孔及烧穿）符合下列条件之一的应为缺陷：
a) 单个体积型缺欠显示的最大尺寸大于3mm； b) 密集体积型缺欠显示区的最大尺寸大于13mm；
c) 根部体积型开口缺欠单个最大尺寸大于6mm或 在任何连续300mm的焊接接头长度中，其累
计长度大于13mm。
7.14.5 单面焊根部开口缺欠显示，符合下列条件之一时应为缺陷：
a) 缺欠自身高度超过2.5mm；
b) 单个长度大于25mm或在任何连续300mm的焊接接头长度中，其累计长度大于50mm； c) 错边未焊透、根部咬边及内凹等单个长度超过50mm，或任何连续300mm的焊接接头长度
中，其累计长度超过75mm。
7.14.6 除错边未焊透、根部咬边及内凹外，其他缺欠显示的累计长度符合下列条件之一时应为缺陷：
a) 在任何连续300mm的焊接接头长度中，缺欠显示的累计长度超过50mm； b) 缺欠的累计长度超过焊缝长度的8％。 7.15 报告和存档
全自动超声波检测报告内容至少应包括：工程名称、焊接接头编号、坡口形式、材质、管径、
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壁厚、检测标准、检测参数、检测内容、检测人（级别）、审核人（级别）、检验日期、评定结果等。检测报告格式参加附录C。 8 磁粉检测 8.1 检测人员
从事磁粉检测的工作人员除应符合4.4的规定外还应符合下列要求：
a) 磁粉检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力不应低于5.0（小数记录值为1.0）, 测试方法应符合GB 11533的规定，并一年检查一次； b) 不应有色盲。 8.2 检测方法
本章采用湿法电磁轭连续磁化技术。 8.3 设备
8.3.1 磁粉检测设备应符合JB/T 8290的规定。
8.3.2 当使用磁轭最大间距时，交流电磁轭至少应有45N的提升力；直流电磁轭至少应有177N的提升力；交叉磁轭至少应有118N的提升力(磁极与试件表面间隙应为0.5mm)。
8.3.3 当采用荧光法检测时，所使用的黑光灯在工件表面的黑光辐照度应大于或等于 1000μW/cm2 ，黑光的波长范围应为320nm～400nm，中心波长约为365nm。黑光源辐射的测定应符合GB/T 5097-2005的规定。 8.4 标准试片
8.4.1 标准试片用于检验磁粉检测设备、磁粉和磁悬液的综合性能，测定被检工件表面有效磁场强度和方向、有效检测区以及磁化方法是否正确。
8.4.2 标准试片分为A1型标准试片和C型标准试片。A1型和C型标准试片应符合JB/T 6065的规定。
8.4.3 A1型标准试片几何尺寸如图8所示，型号及槽深应符合表39的规定。本标准宜选用A1-30/100型标准试片。
35
图8 A1型标准试片 表39 A1型标准试片
型号 试片厚度 μm A1-15/100 A1-30/100 A1-60/100 100 人工缺欠槽深 μm 15 30 60 8.4.4 C型标准试片几何尺寸如图9所示，型号及槽深应符合表40的规定。本标准宜选用C-15/50标准试片。
图9 C型标准试片几何尺寸
表40 C型标准试片
型号 试片厚度 μm C-8/50 50 C-15/50 15 人工缺欠深度 μm 8 8.4.5 标准试片应按下列方法使用：
a） 标准试片使用时，应将试片无人工缺欠的面朝外。为使试片与被检面接触良好，可用透明胶带将其平整粘贴在被检面上，并注意胶带不应覆盖试片上的人工缺欠；
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b） 标准试片表面有锈蚀、折痕或磁特性发生改变时不应继续使用。试片使用后应用溶剂清洗
干净，再用干净的脱脂棉或纸擦去溶剂，不应用手触摸试片表面。干燥后应再涂上防锈油，并保存在干燥的环境中；
c） 宜选用A1型标准试片，当检测部位狭小时，若A1型标准试片使用不便，可使用C型标准
试片。
8.5 辅助器材
磁粉检测时，还应备有下列辅助器材： a） 磁悬液浓度沉淀管； b） 5倍～10倍放大镜； c） 白光照度计； d） 黑光灯； e） 黑光辐照计。 8.6 磁粉、载体及磁悬液
8.6.1 磁粉应具有高导磁率、低矫顽力和低剩磁，并应与被检工件表面颜色有较高的对比度。磁粉粒度和性能的其他要求应符合JB/T 6063的规定。
8.6.2 湿法应采用水或低粘度油基载体作为分散媒介。若以水为载体时，应加入适当的防锈剂和表面活性剂，必要时可添加消泡剂。油基载体的运动粘度在38℃时应小于或等于3.0 mm2/s，使用温度下应小于或等于5.0mm/s，闪点不应低于94℃，且应无荧光和无异味。 8.6.3 磁悬液应符合下列规定：
a） 磁悬液浓度应根据磁粉种类、粒度、施加方法和被检工件表面状态等因素来确定。磁悬液
浓度范围应符合表41的规定。测定前应对磁悬液进行充分的搅拌。磁悬液也可采用磁膏配制，用磁膏配置磁悬液的浓度应按磁膏的使用说明书进行；
表41 磁悬液浓度
配置浓度 磁粉类型 g/l 非荧光磁粉 荧光磁粉 10～25 0.5～3.0 ml/100ml 1.2～2.4 0.1～0.4 沉淀浓度 2
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b） 磁悬液浓度的测定方法：测定前应将磁悬液充分搅拌，搅拌时间不应少于30min，再将100ml
磁悬液注入磁悬液浓度沉淀管中，静止沉淀30min后，观察试管底部沉淀物的体积； c） 荧光磁悬液配制后宜在24h内用完。 8.7 校验
8.7.1 电磁轭的提升力应每年校准一次，设备受到损坏或进行重大修理后应重新校准。如设备停止使用一年或更长时间，应在使用前校准。
8.7.2 磁粉检测用辅助仪表，如黑光灯、照度计、磁场强度计等，至少应每年校验一次。 8.7.3 新配制的磁悬液浓度应符合表41的规定；循环使用的磁悬液，每天开始工作前，应进行磁悬液浓度测定。
8.7.4 检测前，应进行磁悬液润湿性能检验。将磁悬液施加在被检工件表面上，如磁悬液的液膜是均匀连续的，则磁悬液的润湿性能合格；如液膜被断开，则磁悬液的润湿性能不合格。 8.8 安全防护
磁粉检测应配备防止触电及紫外线影响的防护用品，严禁使用不带滤波片的黑光灯，应避免黑光灯直接照射人的眼睛。 8.9 综合性能试验
每天检测工作开始前，应用标准试片检验磁粉检测设备及磁粉和磁悬液的综合性能（系统灵敏度）。
8.10 被检表面制备
被检焊缝两侧各100mm范围内不应有油脂、锈蚀、涂层、氧化皮、飞溅或其他粘附磁粉的物质。表面的不规则状态不应影响检测结果的评定，否则应做适当的修磨，修磨后被检表面粗糙度Ra不应大于25µm。 8.11 检测范围
检测范围应符合下列规定：
a） 焊接接头的检测范围应为焊缝宽度加上焊缝两侧各1/2的母材厚度； b） 焊接卡具痕迹的检测范围应为焊接卡具痕迹的四周加上向外延伸5mm。 8.12 磁粉检测基本步骤
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磁粉检测应按下列基本步骤进行： a） 预处理； b） 磁化； c） 施加磁悬液； d） 观察并记录磁痕； e） 评定缺欠； f） 后处理。 8.13 操作要求
8.13.1 电磁轭检测的提升力应符合8.3.2条的规定。一般磁轭间距应控制在75mm～200mm之间，检测的有效区域为两极连线两侧各50mm的范围内，有效检测范围应是标准试片人工缺欠能清晰显示磁痕的区域。磁化区域每次应至少有15mm的重叠。
8.13.2 受检工件的每一受检区域至少应进行两次磁化，磁力线方向应相互垂直。当使用交叉磁轭磁化装置时，四个磁极端面与检测面之间应尽量贴合，最大间隙不应大于1.5mm，检测速度不宜大于4m/min。
8.13.3 磁悬液的施加应符合下列规定：
a） 磁悬液浓度应符合8.6.3条的规定；
b） 受检表面应先被磁悬液良好地湿润后，方可施加磁悬液；
c） 磁悬液的施加可采用喷、浇方法，不可采用刷涂法。无论采用哪种方法，均不应使检测面
上磁悬液的流速过快；
d） 磁悬液应在通电时间内施加完毕，通电时间宜为1s～3s。为保证磁化效果应至少反复磁化
两次，停施磁悬液至少1s后方可停止磁化。已形成的磁痕不应被流动着的磁悬液所破坏。
8.13.4 磁痕形成后应立刻按下列方法观察：
a） 非荧光磁粉检测时，磁痕的观察应在可见光下进行，工件受检表面处可见光照度不应小于
1000 lx；当现场采用便携式设备检测时，由于条件所限无法满足时，可见光照度可适当降低，但不应低于500 lx；荧光磁粉检测时，黑光灯的辐照度和波长应满足8.3.3条的要求。磁痕的观察应在较暗的环境里进行，其可见光照度不应大于20 lx。 b） 当辩认细小缺欠磁痕时，应用5倍~10倍放大镜进行观察。 8.14 复验
39
8.14.1 当出现下列情况之一时，应进行复验：
a） 检测结束时，用标准试片验证检测灵敏度不符合要求； b） 发现检测过程中操作方法有误； c） 对检测结果有争议； d） 有其他需要。
8.14.2 复验应按8.13的要求进行。 8.15 验收标准
8.15.1 磁痕的分类应符合下列规定：
a） 磁痕显示分为相关显示、非相关显示和伪显示三类。非相关显示和伪显示不应进行评定； b） 相关显示的分类应符合下列规定：
1） 长度与宽度之比大于3的缺欠磁痕，应按线性缺欠处理；长度与宽度之比小于或等于
3的缺欠磁痕，应按圆形缺欠处理；
2） 在一直线两侧各2㎜的宽度范围内，两缺欠之间夹角不超过30º，且该直线通过各缺
欠中某一条的中心线时，若两个或两个以上线形缺欠磁痕显示且间距小于或等于2mm，应按一条缺欠处理，其长度为各个缺欠磁痕长度之和加间距；
3） 在同一直线上的四个以上直径大于1.5mm且间距小于1.5mm的圆形显示，按链状圆
形显示处理；
4） 长度小于1.5mm的缺欠磁痕显示可不计。
8.15.2 相关显示的记录，应符合下列规定：
a） 所有需评定的相关相关显示的尺寸、数量和产生部位均应记录，并应绘制示意图。需返工
的缺欠相关显示应在受检表面相应部位用油质笔做出明显标记； b） 磁痕的永久性记录可采用胶带法、照相法及其他适当的方法。 8.15.3 被检表面存在下列任一相关显示时应评定为缺陷：
a） 任何裂纹显示； b） 链状圆形显示；
c） 任何长度大于2.5mm的线性缺欠显示；
d） 单个圆形显示的尺寸大于相邻较薄侧管壁厚度的1/2；
e） 工作压力小于或等于4.0MPa的管道，单个圆形显示大于5mm或在150mm×25mm评定区
40
域内缺欠磁痕长度的总和大于12mm或线性缺欠磁痕长度的总和大于9㎜；
f） 工作压力大于4.0MPa的管道，单个圆形显示大于4mm或在150mm×25mm评定区域内缺
欠磁痕长度的总和大于9mm或线性缺欠磁痕长度的总和大于6mm。
8.16 磁粉检测报告
磁粉检测报告至少应包括：工程名称、受检工件名称、编号、受检工件材质、规格、表面状
态及检测时机、检测装置的名称、型号；磁粉种类及磁悬液浓度、施加磁粉的方法、磁极间距、；检测灵敏度校验及试片名称、缺欠记录及工件草图（或示意图）、检测结论和采用检测标准名称、检测日期、检测人员和审核人员签名并注明其资格等级等，报告格式参见附录C。 9 渗透检测 9.1 检测人员
凡从事渗透检测的工作人员除应符合4.4的规定外，还应满足下列要求：
a) 矫正视力不应低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB 11533的规定，并一年检查一次；
b) 从事渗透检测的工作人员，不应有色盲。 9.2 检测方法
本章采用溶济去除型着色渗透、快干式显像的渗透检测方法。 9.3 检测材料
9.3.1 渗透检测剂（以下简称检测剂）应包括渗透剂、清洗剂和显像剂。
9.3.2 检测剂应采用经国家有关部门鉴定过的产品，不同型号、不同类型的产品不应混合使用。 9.3.3 当发现有下列情况之一时，检测剂应停止使用：
a） 渗透剂有明显的变色，喷涂后难以清洗；
b） 显像剂不能在受检工件表面上均匀附着、显像性能不良； c） 喷罐式渗透检测剂的喷罐表面有锈蚀，喷罐出现泄漏。
9.3.4 当受检材料为奥氏体钢或钛及钛合金材料时，一定量检测剂蒸发后的残渣中，氯、氟元素之和的重量比不应超过1%。当受检材料为镍基合金材料时，一定量检测剂蒸发后的残渣中，硫元素含量的重量比不应超过1%。
9.3.5 检测剂应置于阴暗凉爽的地方。
9.3.6 渗透检测中所使用的棉布、棉纱或吸湿纸应清洁、干燥和无绒毛。
41
9.4 试块
9.4.1 试块分为铝合金标准试块(A型对比试块)和镀铬试块(B型试块)，两种试块的主要作用如下：
a） 铝合金标准试块主要用于：
1） 确定检测工艺规范：对用于非标准温度下的渗透检测工艺规范作出鉴定，以确定最
佳检测工艺；
2） 鉴别检测剂的性能：在正常使用情况下，检验渗透检测剂能否满足要求，以及比较
两种渗透检测剂性能的优劣；
b） 镀铬试块主要用于检验操作系统渗透检测灵敏度。
9.4.2 铝合金试块试块尺寸如图10所示，试块应由同一试块剖开后具有相同大小的两部分组成，并应打上相同的序号，分别标以A、B记号，A、B试块上均应具有细密相对称的裂纹图形。铝合金试块的其他要求应符合JB/T 6064的相关规定；
9.4.3 镀铬试块采用JB/T 6064-2006中规定的三点式B型试块,材料为1Cr18Ni9Ti或类似的不锈钢板材，尺寸规格及其他要求应符合JB/T 6064-2006中的要求。
图10 铝合金试块
9.4.4 试块使用后应及时进行清洗。先用丙酮反复地仔细擦洗试块，干净后再放入装有丙酮和无水酒精混合液（体积混合比为1:1）的密闭容器中保存，也可用其他等效方法保存。 9.5 安全防护
9.5.1 渗透检测现场应通风，并应远离火源、热源。
9.5.2 在狭窄通风不良的环境中渗透检测时，应有人在旁监护且一次连续工作时间不宜超过40min。
9.5.3 喷罐式检测剂的储存温度不应超过50℃。
42
9.5.4 渗透检测完毕后应清理检测现场的废弃物。空喷罐应泄压后再作处理。 9.5.5 渗透检测人员应配备乳胶手套、防毒口罩等防护用品。 9.6 表面要求
9.6.1 外观检查合格后方可进行渗透检测。 9.6.2 被检表面应符合下列要求：
a) 被检表面不应有锈蚀、氧化皮、飞溅、毛刺、其他污物及各种防护层；
b) 焊缝成形较好时，可在焊缝自然状态下做渗透检测。焊缝波纹影响渗透检测时，应进行处
理；
c) 被检测母材表面的粗糙度Ra应小于或等于12.5μm。 9.7 渗透检测基本步骤
渗透检测应按下列基本步骤进行： a） 表面预清洗； b） 施加渗透剂； c） 清洗多余的渗透剂； d） 施加显像剂； e） 观察及评定显示迹痕； f） 后处理。 9.8 操作要求
9.8.1 预清洗应符合下列规定：
应对焊缝及距焊缝边缘至少不小于25mm宽度的范围进行预清洗。清洗时，应用清洗剂或其他有效方法清除表面的污垢。受检表面宜采用自然挥发的办法进行干燥。 9.8.2 施加渗透剂应符合下列规定：：
a) 渗透剂应以喷洒方法施加到受检表面，受检区域应完全被渗透剂覆盖，并在整个渗透时间
内保持润湿状态；
b） 当工件温度为10℃~50℃时，渗透时间不应少于10min；
c） 当工件温度低于10℃或高于50℃时，应按附录I的要求对检测规范进行确认。 9.8.3去除多余的渗透剂应符合下列规定：：
43
a） 溶剂去除型渗透剂用清洗剂去除。除特别难清洗的地方外，一般应先用干燥、洁净不脱毛
的布依次擦拭，直至大部分多余渗透剂被去除后，再用蘸有清洗剂的干净不脱毛的布或纸进行擦拭，直至将被检面上多余的渗透剂全部擦净。但应注意，不应往复擦拭，不应用清洗剂直接在被检面上冲洗；
b） 在清洗操作过程中应防止过清洗或清洗不足。 9.8.4 显像应符合下列规定：：
a） 应采用喷涂法施加显像剂，覆盖整个被检表面，形成均匀的薄膜； b） 施加显像剂之前，显像剂应摇均，以保持显像剂的悬浮状态；
c） 喷施显像剂时，喷嘴离被检表面距离宜为300㎜～400㎜，喷洒方向与被检表面夹角应
为30°～40°，不应往复喷洒；
d） 在工件温度为10℃~50℃时，显像时间不宜少于7min； 9.8.5 观察应符合下列规定：：
a) 应在自然光或白光灯下观察迹痕显示，受检区域的可见光照度应大于或等于500lx； b） 观察迹痕显示应在显像剂施加后7min~60min内完成。如显示迹痕的大小不发生变化，
也可超过上述时间；
c） 辨认细小显示时可用5倍～10倍放大镜进行观察，必要时应重新进行处理和渗透检测。
9.8.6 后处理应符合下列规定：：
渗透检测后，工件上残留的渗透剂或显像剂应清除干净。 9.9 复检
9.9.1 当出现下列情况之一时，应进行复验：
a) 检测结束时，经标准试块验证表明检测剂失效； b） 检测过程中操作方法有误； c） 不能确定显示迹痕是否为缺欠迹痕； d） 对检测结果有争议； e） 有其他需要。
9.9.2 复检应按9.8条的要求进行。 9.10 验收标准
9.10.1 显示迹痕分类应符合下列规定：
44
a) 渗透显示分为相关显示和非相关显示。非相关显示不应进行记录和评定。 b) 相关显示的分类应符合下列规定：
1） 对受检表面上所显示的迹痕应仔细辨认，只有缺欠造成的显示迹痕才是评定的对象。
长度小于1.5mm的迹痕显示不应作评定。
2) 缺欠显示评定时，应以显示迹痕的尺寸为准，而不是指缺欠的实际大小。
3) 长度与宽度之比大于3的缺欠显示，应按线性缺欠处理；长度与宽度之比小于或等于
3的缺欠显示，应按圆形缺欠处理。
4) 在同一直线上的四个以上直径大于1.5mm且间距小于1.5mm的圆形显示，应按链状圆
形显示处理。
5) 在一直线两侧各2㎜的宽度范围内，两缺欠之间夹角不应超过30º，且该直线通过各
缺欠中某一条的中心线时，若两个或两个以上线形缺欠显示间距小于或等于2mm，应按一条缺欠处理，其长度应为各个缺欠显示长度之和加间距。
9.10.2 应记录缺欠的位置、性质、分类、数量和长度，缺欠迹痕的记录应采用绘制示意图的方式,必要时也可采用照相或薄膜复制的方式。
9.10.3 被检表面存在下列任一相关显示应判为缺陷：
a） 任何裂纹显示； b） 链状圆形显示；
c） 任何长度大于2.5mm的线性缺欠显示；
d） 单个圆形显示的尺寸大于相邻较薄管壁厚度的1/2；
e） 工作压力小于或等于4.0MPa的管道，单个圆形显示大于5mm或在150mm×25mm评定
区域内缺欠迹痕长度的总和大于12mm或线性缺欠迹痕长度的总和大于9mm；
f） 工作压力大于4.0MPa的管道，单个圆形显示大于4mm或在150mm×25mm评定区域内
缺欠迹痕长度的总和大于9mm或线性缺欠迹痕长度的总和大于6mm。
9.11 渗透检测报告
渗透检测报告应包括：工程名称、受检产品及部件的名称、代号、受检部位的规格、材质、表面状态和检测时机、检测剂（渗透剂、清洗剂、显像剂）的牌号、型号、试块型号、检测方法、检测条件（包括环境温度、渗透时间和显像时间）、采用标准名称、检测结论、检测日期、检测人员和审核人员签名并注上资格等级等，报告格式参见附录C。
45
附录A （资料性附录） 胶片系统特性指标
工业射线胶片系统的主要特性指标见表A.1。
表A.1 胶片系统的主要特性指标
梯度最小值 （Gmin） 颗粒度 最大值 （σD）max （梯度/颗粒度）最小值 （ G/σD）min 胶片系感光特性曲线感光乳剂粒度 统类别 速度 平均梯度 D=2.0 T1 T2 T3 T4 低 较低 中 高 高 较高 中 低 微粒 细粒 中粒 粗粒 4.3 4.1 3.8 3.5 D=4.0 7.4 6.8 6.4 5.0 D=2.0 0.018 0.028 0.032 0.039 D=2.0 270 150 120 100 注：D表示黑度，表中的黑度均指不包括灰雾度的净黑度。
46
附录B （资料性附录）
黑度计（光学密度计）定期校验方法
B.1 黑度计校验的一般规定
黑度计可按照生产厂推荐的方法或按B.2规定的方法校验。 B.2 黑度计校验步骤
B.2.1 接通黑度计外电源和测量开关,预热10min左右。
B.2.2 用标准黑度片（密度片）的零黑度点（区）校准黑度计零点,校准后顺次测量黑度片上不同黑度的各点的黑度,记录测量值。 B.2.3 按B 2.2的规定循环测量三次。
B.2.4 计算出各点测量值的平均值,以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。 B.2.5 对黑度不大于4.5的各点的测量误差均不应超过±0.05,否则黑度计应校准、修理或报废。 B.2.6 所使用的标准黑度片至少应每两年送计量单位检定一次。
47
附录C （资料性附录） 检测报告格式
管 道 焊 缝 射 线 检 测 报 告
报告编号： 共 页第 页 工程名称 检测日期 规格 焊接方法 源的种类 胶片牌号 胶片规格 胶片处理 像质计型号 像质计位置 管电流 焦距 透照方式 检测标准 检测数量 检测部位示意图 结论： 评定人员： 级 别： 年 月 日 审核人员： 级 别： 年 月 日 检测单位（盖章） 年 月 日 监理（签字）： 年 月 日 道口 □ 源侧 □ 胶片侧 □自动 □手工 mm 坡口型式 工程编号 桩号/线位号 材质 焦点尺寸 ㎜ 铅增感屏 显影剂型号/配方 显影时间 显影温度 管电压 施工单位 设备型号 ㎜ 前屏 mm 后屏 mm min ℃ KV Ci min 底片黑度范围 道口 一次合格率 % □X射线 □Ir192 □Se75 要求像质指数 mA ㎜ 源强 曝光时间 □单壁单影内透法 □双壁单影法 □双壁双影法 合格级别 返修数量 48
管 道 焊 缝 射 线 检 测 报 告（附 页）
报告编号： 共 页第 页 工程名称 检测日期 序 号 评定人员： 级 别： 年 月 日
49
施工单位 桩号/站场 评定 级别 监理（签字）： 年 月 日 备注 焊缝编号 板厚 一次透照 像质缺欠位置、性质及长度mm 长度mm 指数 mm 审核人员： 级 别： 年 月 日
管 道 焊 缝 超 声 波 检 测 报 告
报告编号： 共 页第 页 工程名称 检测日期 规格 板厚 焊接方法 表面状态 检测标准 设备型号 探头型号 试块类型 扫查灵敏度 耦合剂 检测数量 检测部位示意图 结论： 检测人员： 级 别： 年 月 日 审核人员： 级 别： 年 月 日 检测单位（盖章） 年 月 日 监理（签字）： 年 月 日 道口 mm ㎜ 工程编号 施工单位 桩号/线位号 材质 坡口型式 检测部位 检测时机 合格级别 检测面 频率 MHz 晶片尺寸 mm K值 前沿距离 ㎜ Φ2㎜－ dB 扫查方式 表面补偿 扫描比例 dB 检测方法 □洗涤剂 □浆糊 □机油 □甘油 返修数量 道口 一次合格率 % 50
管 道 焊 缝 超 声 波 检 测 报 告（附 页）
报告编号： 共 页 第 页 工程名称 检测日期 序号 检测人员： 级 别： 日 检测长度 施工单位 桩号/线位号 缺 欠 记 录 缺欠 类型 位置 mm 长度 mm 监理（签字）： 年 月 日 深度 mm 评定 级别 备注 焊缝编号 审核人员： 级 别： 年 月 年 月 日 51
管 道 焊 缝 全 自 动 超 声 波 检 测 报 告
报告编号： 共 页第 页 工程名称 检测日期 规格 坡口型式 焊接方法 设备型号 探头型号 检测灵敏度 耦合剂 检测数量 示意图： 结论： 检测人： 级 别： 年 月 日 审核人： 级 别： 年 月 日 检测单位 （盖章） 年 月 日 监理（签字）： 年 月 日 mm 施工单位 桩号 材质 表面状态 检测标准 试块类型 频率 MHz 尺寸 mm □水 □乙醇 道口 返修数量 道口 一次合格率 % 52
管 道 焊 缝 全 自 动 超 声 波 检 测 报 告（附 页）
报告编号： 共 页第 页 工程名称 检测日期 序号 检测人： 级 别： 年 月 日
焊缝编号 位置mm 施工单位 桩 号 缺 欠 记 录 长度 mm 深度 mm 自身高度 mm 监理（签字）： 年 月 日 评定 备注 结果 估判性质 审核人： 级 别： 年 月 日 53
磁 粉 检 测 报 告
报告编号： 共 页 第 页 工程名称 检测日期 规格 受检部位 表面状态 仪器型号 磁极间距 通电时间 磁化电流 磁粉 检测数量 检测部位示意图 结论： 检测人员： 级 别： 年 月 日 审核人员： 级 别： 年 月 日 检测单位（盖章） 年 月 日 监理（签字）： 年 月 日 ㎜ ㎜ s 工程编号 桩号/线位号 材质 检测时机 检测标准 黑光灯型号 提升力 灵敏度试片 施工单位 N A 磁粉施加方法 型号 浓度 ml/100m □荧光 □非荧光 □湿法（水悬液） 道口 返修数量 道口 一次合格率 % 54
磁 粉 检 测 报 告（附页）
报告编号： 共 页 第 页
工程名称 检测日期 序号 检测人员： 级 别： 年 月 日 焊缝编号 检测长度 mm 审核人员： 级 别： 年 月 日 位置 mm 施工单位 桩号/线位号 缺 欠 记 录 缺欠类型 长度 mm 评定结果 备注 监理（签字）： 年 月 日 55
渗 透 检 测 报 告
报告编号 共 页 第 页 工程名称 工程编号 桩号/线位号 工件温度 检测时机 检测标准 清洗剂 渗透剂施加方 法 渗透时间 检测数量 检测部位示意图 结论： 检测人员： 级 别： 年 月 日 审核人员： 级 别： 年 月 日 检测单位（盖章） 年 月 日 监理（签字）： 年 月 日 道口 min 返修数量 显像时间 道口 一次合格率 min % 显像剂施加方法 渗透剂 ℃ 施工单位 检测日期 规格 受检部位 表面状态 试块 显像剂 56
渗 透 检 测 报 告（附页）
报告编号： 共 页 第 页 工程名称 检测日期 序号 检测人员： 级 别： 年 月 日 焊缝编号 检测长度 mm 审核人员： 级 别： 年 月 日 施工单位 桩号/线位号 缺 欠 记 录 位置 mm 缺欠类型 长度 mm 评定结果 备注 监理（签字）： 年 月 日 57
附录D (规范性附录) 表面声能损失差的测定
D.1 应制作与工件同材质、同曲率、同壁厚且表面粗糙度与SGB试块曲面部分粗糙度相同的曲面试块。
D.2 应用两个同型号的探头置于曲面试块的凸表面上，做一发一收探测，探头间距约为实际检验时探头至焊缝截面中心距离的两倍,如图D.1所示。找到接收波的最大波幅，调节衰减器，使波高为满刻度的60%。
D.3 保证灵敏度不变的情况，应用同样的方法，使斜探头置于工件上，不通过焊缝做一收一发探测，仅调节衰减器，使波高仍为满刻度的60%。衰减器的两次读数差，即为表面声能损失差。
图D.1 表面声能损失差的测定
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附录E (规范性附录)
对比试块的使用及根部缺欠（未焊透）检测灵敏度
E.1 距离波幅曲线制作完毕后，应将仪器增益调节到扫查灵敏度，并应保持灵敏度不变。 E.2 在一定的灵敏度下，应探测SRB试块上矩形槽，并应找出最高反射波，将其峰值点标记在荧光屏上，该峰值点波高即为未焊透缺欠的界限灵敏度，即在一定的灵敏度时，未焊透波幅低于此峰值点时按指示长度评定，大于或等于此峰值点应评为Ⅳ级，如图E.1所示。
图E.1 根部未焊透灵敏度标记示例
59
附录F （资料性附录） 裂纹类缺欠的动态波型
F.1 裂纹类缺欠的回波动态波型a
探头在各个不同的位置检测缺欠时，荧光屏上均呈一个参差不齐的回波。探头移动时，回波幅度显示很不规则的起伏态（±6dB）。图F.1表示声束接近垂直入射，由裂纹类缺欠所产生的波形。
图F.1 接近垂直入射时裂纹类缺欠的回波动态波形
F.2 裂纹类缺欠的回波动态波型b
探头在各个不同的位置检测缺欠时，荧光屏上显示脉冲包络呈钟形的一系列连续信号（有很多小波峰）。探头移动时，每个小波峰也在脉冲包络中移动，波幅由零逐渐升到最大值，然后波幅又下降到零，信号波幅起伏较大（±6dB）。图F.2表示声束倾斜入射时，由裂纹类缺欠所产生的动态波形。
60
图F.2 倾斜入射时裂纹类缺欠的回波动态波形
61
附录G (资料性附录)
试块上典型人工反射体设置
G.1 试块一侧熔合区人工反射体设置数量应根据焊接接头分区数量确定，宜包括根焊区反射体、钝边区反射体、热焊区反射体、填充区反射体，图G.1表示试块一侧熔合区人工反射体的设置方法。
mmmm
a） 根焊区人工反射体的设置方法 b） 钝边区人工反射体的设置方法
mmmm
c） 热焊区人工反射体的设置方法 d） 填充区人工反射体的设置方法
图G.1 试块一侧熔合区人工反射体的设置方法
G.2 应设置一个通孔或通槽，其中心线应与焊接接头截面中心线相重合且垂直于管壁，主要用于确认闸门和焊接接头中心线的位置，也用来设置中间通道。若某个分区的带状图没有显示通孔（槽），则说明该区探头或声束的角度不适用于检测柱孔等接头内部缺欠，应增加中间通道，采用串列扫查模式。图G.2表示中心通孔的设置方法。
mm图G.2 中心通孔设置方法 G.3 附加反射体宜包括体积通道的目标反射体、TDFD通道验证反射体、横向缺欠附加反射体等。 G.4 体积通道的目标反射体应采用直径为1.5mm或2mm的平底孔，并应与坡口中心线成45º角，且
62
平底孔轴线端点应与坡口中心线相交。目标反射体数量的计算可用壁厚除以8，结果四舍五入取整数。设置两个以上平底孔时，平底孔的轴线与焊缝中心线的交点应均分壁厚。图G.3表示体积通道目标反射体的设置方法。
mm 图G.3 体积通道目标反射体的设置方法
G.5 TOFD通道附加反射体分为外表面反射体和内表面反射体。在外表面应设置一个长10㎜、宽1㎜、深度为60%T（T为壁厚）、尖角为60°的尖角形方槽； 在内表面应设置一个长10㎜、宽1㎜、深度一般为3.5㎜、尖角为60°的尖角形方槽。图G.4表示TOFD验证槽的设置方法。
图G.4 TOFD验证槽的设置方法
G.6 横向缺欠的附加反射体分为外表面槽和内表面槽。宜在外表面设置长6㎜、宽2㎜、深度为2.5㎜的方槽，内表面设置长4㎜、宽2㎜、深度为1.5㎜的方槽。
G.7主反射体和附加反射体在试块的布置应以中心通孔为中心，向两侧对称排列TOFD验证槽、体积通道、表面槽、填充区反射体、热焊区反射体、钝边区反射体、根焊区反射体。图G.5表示试块上人工反射体的整体布置。
mm60%T 63
⑽⑼⑻⑺⑸⑷⑶⑵⑴⑿⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⒀
（1）根焊区反射体 （2）钝边区反射体 （3）热焊区反射体一 （4）热焊区反射体二 （5）填充区反射体一 （6）填充区反射体二 （7）表面反射体 （8）体积通道反射体一 （9）体积通道反射体二 （10）TOFD验证槽 （11）中心通孔 （12）焊缝理论中心线 （13）管道轴线
图G.5 试块上人工反射体布置示例
64
附录H (规范性附录) 钢管中声速的测定
H.1 总则
H.1.1 本附录规定了钢中横波声速的测定方法。
H.1.2 本附录规定的横波声速测定方法为常规测定方法，除本方法外，也可选用其他方法和设备测定钢管中的横波声速。 H.2 仪器设备
H.2.1 横波声速测定宜选用下列仪器设备：
——螺旋测微器或游标卡尺；
——横波直探头（5MHz，直径6mm～10mm）； ——耦合液体（蜂蜜等非牛顿粘性液体）。
H.2.2 数字或模拟示波器和超声脉冲发射/接收系统，也可选用全自动超声波检测仪系统。系统的接收放大器不应低于-6dB，频带宽度应为1 MHz到10MHz，显示分辨率不应低于10ns。 H.3 试样制备
H.3.1 试样应在被检测的钢管上截取，得到的结果只应用于检测材质、管径、壁厚和制造厂家等项内容与试样相同的管道。
H.3.2 管线用钢材是各向异性的，因此加工的试样应能满足多个方向上声速的测量需要。至少应加工两对平行的平面作为测量面：一对是径向平面（垂直被检管道的外表面），另外一对与外表面的垂直方向成20º角。如需要更多的数据点，可加工具有其他角度的更多对平行平面。试样的最小截取尺寸为50mm×50mm，加工尺寸应符合图H.1的规定。
与直径平行的端面 径向槽 30mm～50mm 20度角槽 20度角斜面 管壁厚度 槽磨至深度10mm～30mm 50mm～100mm
图H.1 声速试样尺寸
H.3.3 加工后试样的表面粗糙度应大于20μm。试样的测试面最小宽度应为20mm，两个平行平面之
65
间的距离不应小于10mm。测试面在垂直方向上的尺度受管壁厚度的限制。 H.4 检测程序
H.4.1 应用螺旋测微器或游标卡尺测定试样上经过加工的平行平面之间的距离。每个检测面最少应有三个读数，取平均值。
H.4.2 应按图H.2所示联接好脉冲发射/接收仪、横波直探头和示波器，用蜂蜜或其他非牛顿粘性耦合剂将探头耦合到对比试块上。应在探头上施加足够的压力得到清楚的一次底波和二次底波。在检测面上转动探头，观察一次底波和二次底波中有两个位置靠近的信号，这是由于双折射引起的。双折射的发生取决于材料各向异性的性质。声速随着横波的极化方向和材料的微观结构而改变。调节示波器读取两次底波信号中较快信号之间的时间间隔（每个检测面最少要有三个读数）。图H.3表示双折射信号示例。
图H.2 设备联接示意图
66
图H.3 在双折射材料中测定时间间隔示例
H.4.3 应记录测得的时间间隔。
H.4.4 除了在两对加工的平面上进行测量（轴向声速合成一个角度的声速）之外，还应从外表面测量得到第三个读数，得到径向声速。应用螺旋测微器或卡尺在探头与试样表面接触点处测定试样的厚度。图H.4中列出了测定径向速度和为检测焊接接头测定声速时的布置。如要检验直缝管上的纵向焊接接头，应在周向平面上进行测量，并应用周向声速取代轴向声速，斜向声速在圆周平面内与垂直方向成20º角。
2 1 3 最小10mm 1——测量轴向声速时探头位置； 2——测量径向声速时探头位置；
3——测量具有某种角度的声速时探头位置。
最小10mm
图H.4 不同方向的声速测量布置
H.4.5 声速应按下列公式计算：
V=2d/t…………………………………………（G.1）
式中：
67
v ——声速，单位为米每秒（m/s）；
d ——试样的厚度（测量所得）,单位为米(m)；
t ——时间间隔（用脉冲回波法测量所得）,单位为秒(s)。
H.5 允许误差
为了保证声速的测量误差不大于±20m/s，试样厚度测量应精确到±0.1mm，时间测量应精确到25ns。
H.6 记录和绘制曲线
将声速的数值绘成二维极坐标曲线，用曲线可估测直接测定方向以外方向的声速。在极端的测试条件下，温度会对声速有明显的影响，因此，测量读数时的温度也应记录下来。
68
附 录 I （规范性附录） 非标准温度下检测规范的确认
I.1 当工件温度低于10℃时，应按下列方法确认渗透检测规范：
将试块和检测剂降到某一预定温度范围的下限，将拟采用的低温检测规范用于B区。在A区用标准温度规范进行检测，比较A、B两区的裂纹显示迹痕。如显示迹痕基本上相同，则B区的检测参数即为该温度范围的检测规范。
I.2 当工件温度高于50℃时，应按下列方法确认渗透检测规范：
当拟采用的检测温度高于50℃，则应将试块B和检测剂加热到某一预定温度范围的上限，并在整个检测过程中温度保持在这一范围，将拟采用的高温检测规范用于B区。在A区用标准温度规范进行检测，比较A、B两区的裂纹显示迹痕。如显示迹痕基本上相同，则B区的检测参数即为该温度范围的检测规范。
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